QJ 2227A—2005

GJB 360A—1996方法112进行密封性检查；除非另有规定，对于非固体钽电容器可用pH试纸进行检查，一般不要求进行真空检漏。

对于入库时已进行过密封性检查的元器件，复验总不合格品超过10%（或至少1个，取大值）或粗检漏不合格品超过5%（或至少1个，取大值）时，则整批不得用于航天产品正（试）样上；对于入库时未进行密封性检查的元器件，复验总不合格品超过20%（或至少1个，取大值）或粗检漏不合格品超过10%时（或至少1个，取大值），则整批不得用于航天产品正（试）样上。 5.4.1.4 A类超期复验的结论

通过5.4.1.1～5.4.1.3检验的元器件，剔除不合格品后，其余元器件可作为合格品用于航天产品正（试）样上。

5.4.2 B类超期复验要求 5.4.2.1 外观质量检查

按5.4.1.1的要求进行外观质量检查。 5.4.2.2 电特性测试

按5.4.1.2要求在室温下测试主要的电特性，适用时还应按产品规范要求在高、低温下测试元器件的电特性。

对于入库时已进行过高、低温电特性测试的元器件，如果高、低温测试不合格元器件的比例超过7%（或至少1个，取大值），则整批元器件不得用于航天产品正（试）样上。对于入库时未进行过高、低温电特性测试的元器件，应按补充筛选（二次筛选）的要求进行高、低温测试。

其它电特性的批不合格判据同5.4.1.2.2规定。 5.4.2.3 密封性检查

按5.4.1.3规定。

5.4.2.4 烘箱老化及低温弯曲试验

对电线（含漆包线）、电缆应参照GJB 17.6和GJB 17.21的规定，分别抽样进行烘箱老化试验和低温弯曲试验。

5.4.2.5 引出端可焊性试验

引出端可焊性试验的样品应从外观质量检查合格的元器件中抽取，若无其它规定允许抽取电参数不合格的元器件作为样品。引出端可焊性试验要求按表6的规定进行。

表6 引出端可焊性试验要求

元 器 件 类 别

试 验 方 法

试 验 条 件

样本大小b/ （合格判定数）

6/（0） 15/（0）

小功率分立器件aGJB 128A—1997 245±5℃ （0） 大功率分立器件a 集成电路

方法2026 GJB 548A—1996 方法 2003A

或按详细规范规定

245±5℃ 或按详细规范规定

电阻器、电容器、电感器（0） 继电器、真空电子器件（0）

GJB 360A—1996 235±2℃

电连接器、微动开关、熔断器（0）

方法208 或按详细规范规定

石英谐振器、振荡器（0） 电线(含漆包线)、电缆

1m/（0）