QJ 2227A—2005

基本有效贮存期 basic valid storaging term tBVS

未考虑元器件质量等级的有效贮存期。 3.4

贮存质量等级 storaging quality class Q

根据元器件在制造、检验过程中质量控制的严格程度，对元器件贮存后性能的影响而确定的等级。 在本标准中规定了四个贮存质量等级，分别以Q1、Q2、Q3、Q4表示。 3.5

贮存期调整系数 storaging term adjustment coefficent cSA

根据元器件不同的贮存质量等级和用途，对基本有效贮存期调整的系数。 3.6

超期复验 reinspection for exceeded valid storaging term 超过有效贮存期的元器件，在装机前应进行的一系列检验。 3.7

继续有效期 continued valid term

超期复验合格的元器件在规定的贮存环境条件下存放，其批质量能满足要求的期限。 4 一般要求 4.1 贮存环境条件 4.1.1 通用贮存环境条件

元器件应贮存在清洁、通风、无腐蚀气体并有温度和相对湿度控制的场所。通用贮存环境条件的分类见表1。

表1 贮存环境条件分类

分 类 代 号

温 度 ℃

相 对 湿 度 %

Ⅰ～～70 Ⅱ～～75 Ⅲ～～85

4.1.2 特殊贮存环境条件

某些元器件的存放应满足以下特殊要求：

a） 对静电放电敏感的元器件（如MOS器件、微波器件等），应按GJB 1649的规定，采取静电放电

防护措施；

b） 对磁场敏感但本身无磁屏蔽的元件，应存放在具有磁屏蔽作用的容器内；

c） 非密封片状元器件应存放在充有惰性气体的密封容器内，或存放在采取有效防氧化措施（如加

吸湿剂、防氧化剂等）的密封容器内；

d） 微电机等机电元件的油封及单元包装应保持完整。 4.2 贮存期的计算