QJ 2227A—2005

检查电线、电缆线芯，如果发现有氧化、锈蚀等情况，则整盘电线、电缆不得用于航天产品正（试）样上。

5.4.3.4 C类超期复验的结论

通过5.4.2.1～5.4.2.5和5.4.3.2、5.4.3.3检验的元器件，剔除不合格品后，其余元器件可作为合格品用于航天产品正（试）样上。 5.5 超期复验后的继续有效期

超过有效贮存期的元器件，经超期复验（包括第二次超期复验）合格后，在不低于原贮存环境条件下存放，元器件的继续有效期分别见表9、表10和表11。

表9 半导体器件的继续有效期 单位：月

超期复验分类

半导体器件类别

Ⅰ

非密封片状半导体分立器件 塑料封装半导体分立器件 玻封、玻璃钝化半导体分立器件

24

非塑料封装的半导体光电子器件 非气密封装的集成电路 金属或陶瓷封装半导体分立器件 金属或陶瓷封装半导体集成电路 金属气密封装混合集成电路

30

24

18

24

18

12

18

12

6

—

18

12

18

12

6

12

6

3

—

说 明 Ⅱ

Ⅲ3

Ⅰ4

Ⅱ3

Ⅲ2

Ⅰ3

Ⅱ2

Ⅲ1

贮存环境按4.1.2c）要求

4

表10 电阻器、电容器和电感器的继续有效期 单位：月

超期复验分类

元件类别

Ⅰ

非密封片状电阻器、电容器、电感器可变电阻器（电位器）、电容器、电感器非固体电解质钽电容器(银外壳) 非密封塑料薄膜介质电容器 全密封固体电解质钽电容器 非固体电解质钽电容器(钽外壳)

30

无机介质电容器 密封塑料薄膜介质电容器

固定电阻器、固定电感器30

24

30

24

18

24

24

18

24

18

12

18

24

18

12

18

12

6

12

—

说 明 Ⅱ18

Ⅲ12

Ⅰ18

Ⅱ12

Ⅲ6

Ⅰ12

Ⅱ Ⅲ

贮存环境按

4.1.2c）要求

—