QJ 2227A-2005 航天元器件有效贮存期和超期复验要(8)

QJ 2227A—2005

以上计算得出的元器件有效贮存期仅供超期复验使用，不能取代元器件产品规范中规定的允许贮存期，也不表明航天用户对元器件有效贮存期的要求。 5.4 元器件超期复验要求 5.4.1 A类超期复验要求 5.4.1.1 外观质量检查 5.4.1.1.1 抽样方案

若无其它规定，除成盘的电线(含漆包线)、电缆外，其它元器件应全部检查。

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m作为样本进行检查；非成盘的电线(含漆包线)及成盘的电缆应在起始端截去0.1m后，再抽样10+0

或长度不超过10m的电缆可抽取长度10％作为样本进行检查。 5.4.1.1.2 检查方法及批不合格判据

用3～10倍放大镜或显微镜对元器件进行外观检查。元器件引出端断裂或外壳脱落为致命缺陷；引出端锈蚀或表面损伤为严重缺陷；表面镀涂层脱落、起泡或标志模糊不清但不影响使用为轻缺陷。有这三种缺陷的元器件均为不合格品，应予剔除。

如检查结果不合格的元器件的比例超过5%（或至少1个，取大值），或致命缺陷和严重缺陷元器件的比例超过2%（或至少1个，取大值），则整批元器件不得用于航天产品正（试）样上。

电线、电缆的外绝缘层或屏蔽层如果有老化变质或锈蚀等情况，应按5.4.3.3进行破坏性物理分析（DPA），如果分析结果不合格，则整盘电线、电缆不得用于航天产品正（试）样上。漆包线如果有漆皮脱落或粘附力不强等缺陷，则整盘漆包线不得用于航天产品正（试）样上。 5.4.1.2 电特性测试 5.4.1.2.1 抽样方案

若无其它规定，除成盘的电线(含漆包线)、电缆外，其它元器件应全部检查。

电线（含漆包线）及成盘的电缆应在起始端截去0.1m后，再抽样10+10m作为样本进行检查；非成盘的或长度不超过10m的电缆可抽取长度10％作为样本进行检查。 5.4.1.2.2 测试方法及批不合格判据

对于入库时已进行过电特性测试的元器件，应按入库测试的方法进行相同参数的测试。对于入库时未进行电特性测试的元器件，应按元器件相应的详细规范或产品手册测试功能和主要参数（电线、电缆一般仅要求测试绝缘电阻和耐电压）。元器件丧失规定功能为致命缺陷；参数不符合规范要求（参数超差）为非致命缺陷。除非另有规定，测试仅要求在室温下进行。

如测试结果不合格的元器件的比例超过10%（或至少1个，取大值），或其中致命缺陷元器件的比例超过3%（或至少1个，取大值），则整批元器件不得用于航天产品正（试）样上。

电线（含漆包线）、电缆样本的电特性不合格，则整盘电线（含漆包线）、电缆不得用于航天产品正（试）样上。

5.4.1.3 密封性检查 5.4.1.3.1 抽样方案

对密封元器件应全部进行密封性检查。 5.4.1.3.2 检查方法及批不合格判据

按有关元器件的产品规范（总规范、详细规范）要求进行密封性检查；对于无适用产品规范的元器件，半导体分立器件按GJB 128A—1997方法1071、半导体微电路按GJB 548A—1996方法1014A、元件按