GR-468-CORE中文版(19)

本标准为一位同事精心翻译后完成的,当然存在一定的不足之处,还请多多指正;(仅供参考学习,请勿商用) Happy Fei

Happy_Fei

上面的第二种例外，适用下面的目标。

O2-28 [111v2] 设备厂商对潜在的供应商做初步调查时，如果发现失效，需要考虑的是停止

待解决的失效分析，以确定问题的原因和严重程度。

注意，对于任何特殊的验证测试，本文指定的LTPD数值通常不是10就是20，而且跟

这些值对应的最小样本大小是22和11。根据表A-1中LTPD值为10的信息，如果在最初的22个样品测试中发现一个不良器件，可以从最初的总体中抽取含有16个器件的第二套样本并做测试。如果在第二套样本中没有发现不良器件，可以认为产品在38个样品中只有一个不良，并且通过10%的LTPD标准。同理，对于数值为20的LTPD，如果在最初的11个样品的测试中发现一个不良器件，可以对第二套样本的7个器件做测试。如果没有发现另外的不良器件，那么它满足20%的LTPD标准。

2.1.3.7.2 验证中不合格器件的使用

在许多情况下，由于次要原因不满足设备厂商(或器件供应商)的性能标准的器件可以用于特定的验证测试，这样减少了验证测试的成本。例如，一个光学波长或者谱宽在规范之外的器件，对于各种物理特性测试(有几个是破坏性的)或应力测试来说已经足够。

R2-29 [16v2] 设备厂商(或器件供应商)应该详细记录在验证测试中如何使用不合格器件。

2.1.3.7.3 小批量器件的处理

即使可能用到的数量很小，本文涵盖的光电子器件仍然非常重要。同样的，它们通常不能免除任何完整的验证程序。

R2-30 [19v2] 由于使用量小(或其它原因)而免除完整的验证程序，应从技术上证明其合理

性。并且根据请求复查时，需要具备有效的证据。

2.1.3.7.4 附加样品的特性测试数据

O2-31 [394] 除了从R4-8[110v2]和表4-2中的样本总体获得的数据之外，设备厂商同样可以

从器件供应商的一个更大总体中(例如，50 － 200个器件，至少有3个不同的日期喷码)得到数据。统计分布(例如，最小值，最大值，平均值和3σ) 的实测参数应该同规格范围和设计要求相比较，确保有足够的富余量。

2.1.3.7.5 应力测试的附加考虑因素

通常将相同的测试样品用于多个应力测试中，来减少验证需要的样品总数。但是，在一次测试中产生的器件失效不能忽略，也不能作为累积应激损伤的结果，而必须计算在当前测试的失效内。因此，当采取这些措施时，需要小心。同样，虽然应力测试用于检测一种类型的失效机理，但是其它未预料的失效机理常常也会发生，并且通常不能排除。意外的损坏和特殊的环境除外。

R2-32 [145v2] 如果相同的器件样品经历了多次应力测试，并且以绝对条件(例如，光输出功

率必须是 －5.0～0.0dBm) 指定特殊参数的范围，把它作为通过／失败判断程序的一部分做测量，那么累积的劣化应该与当前测试的通过／失败标准比较。