GR-468-CORE中文版(16)

本标准为一位同事精心翻译后完成的,当然存在一定的不足之处,还请多多指正;(仅供参考学习,请勿商用) Happy Fei

Happy_Fei

执行的测试和测量

测试和测量程序

抽样计划和待测样品(从经过验证的器件中选出)的任何允许偏差。

确定测试是否通过的标准

测试数据保留格式的规范

测试失效结果和报告的分类

当发生失效时采取的纠正措施

R2-11 [11] 记录用于器件验证的实际规则和程序。

R2-12 [12] 应该清楚地记录验证测试的结果，至少保存5年。

R2-13 [390] 验证程序的结果报告应该包括足够的信息和详细资料，这样就一目了然。该报

告至少要包括下列各项：

验证程序的范围和验证的工作条件是有效的(例如，CO，UNC环境)

执行的一系列测试，以及测试方法的描述

用于每一个测试的器件的描述，以及开始数量

对于每一个应力测试，则包括判定器件是否通过测试的描述，以及每一个测量 方法的描述或参考。

每一个测试或测量的通过／失败标准，以及特殊值的判定。

测试和测量的结果，包括测试通过和失败的器件数量。

O2-14 [13] 验证测试的结果至少应该保存10年。

除了验证规则，程序和结果以外，在某些情况下，可能有必要保留(用于验证程序的) 实际的样品。

2.1.3.2 相似器件的验证

因为器件制作，组立或筛选的一点小差异就会对可靠性产生重大影响，所以光电子元件不能按照普通(非光电子的)元件做相似的验证。然而在某些情况下，这种验证是可行的。例如激光模块的“产品系列”，具有相同的模块封装和相同的激光二极管芯片(出自同一产线)，不同的只是耦合输出功率。在这种情况下，该系列的测试必须采用最高的测试要求。此外，如果新器件是在原有产品的基础上研发的，那就没有必要重复整个验证。相反的，充分了解失效和劣化机理，可以用来确定哪些验证测试必须执行。如果应用了相同的技术平台，由同一供应商生产，制程相同且在一个指定的生产场所管控，复杂程序和封装类似，就可以使用现有相似产品的验证数据。