GR-468-CORE中文版(18)

本标准为一位同事精心翻译后完成的,当然存在一定的不足之处,还请多多指正;(仅供参考学习,请勿商用) Happy Fei

Happy_Fei

O2-23 [25] 验证记录的报告至少应该保存5年。

2.1.3.6 内部制造器件的处理

R2-24 [26v2] 由设备厂商自己，或者由相同母公司的其它公司内部制造的器件，应该满足关

于采购部件的相同验证和重新验证标准。

R2-25 [27v2] 应该从设备厂商的工厂获取实时的 (内部制造器件的) 测试数据，并且定期复

查这些信息。如果出现问题，厂商应该能够迅速提供这些数据。

2.1.3.7 验证测试的抽样

2.1.3.7.1 LTPD抽样方案

“LTPD”，“SS”和“C”的定义如下。

LTPD指的是批容许不良率。

SS指的是在指定的LTPD下，推荐的样本大小。

C是推荐的样本大小中允许的最大失效数。

附录A中给出了LTPD抽样简表

R2-26 [105v2] 用于验证测试(和／或可靠性测试，见第5节)的器件样品至少要从三个晶片或

批中随机选取，并且经过正常的筛选步骤。如果不可行，器件供应商或设备厂商应该证明采取的步骤是正确的并做记录。

注意，特别是在模块的情况下，经过验证，从3个不同的批中(例如，在验证期间，所有可用的模块可能来自于一个单独批) 选抽样品不可行。同样也要注意，在将二极管水平的测试延迟到模块水平(见2.1.3.3节)时，仍然适用 (样本至少从3个晶片中选取)的二极管抽样要求。

R2-27 [393] 在每一个验证或加速老化测试中，待测器件数目不少于R4-8[110v2] 或者相应

表中(例如，表4-2，表4-3)的“注释”或“SS”列中指定的样本大小。同样，除了下面的例外，验证测试失败的器件样品数不大于 (要求或者表中) 给定的数值“C”。

下面是R2-27[393]中提到的例外：

LTPD抽样程序本身允许使用更大的样本量，允许的失效数取决于实际的样本大小，

如表A-1所示。

对潜在的供应商做初步调查时，允收／拒绝标准不需要太严格(例如，对允许的失

效数，不需要一个特定值)。