方向图测量

介质折射率）之间，其作用类似于传输线中的四分之一波长阻抗变换器。

(2) 低介电常数透镜法

采用低介电常数介质做透镜，可以在一定程度上减小散射和绕射作用由于介电常数低，即折射率小，故透镜一般都需作较厚，电磁波在 中的行程加大，因此，最好选用低损耗介质，以保证增益不致下降过多。

2．抛物面平行校正器

精确聚焦抛物面天线是一个良好的产生平面波前模拟远场的源天线。有两种类型：一种是由抛物柱面平行校正器作成的线源测试场，另一种是切割旋转抛物面组成的点源测试场。前者有极化单一和稳定的优点，但频带较窄；后者极化任意性（主要取决于初级馈源极化特性），频带宽，设计制造合理时，可以在几个波导频段上使用，其频率上限取决于抛物面表面的加工精度，频率下限由测试场所用平行校正器边缘绕射效应确定。

图3﹒26所示为由切割抛物面反射器作平行校正器构成的缩距测试场示意图。为了减小或消除馈源直接辐射、室内杂散辐射、源天线与待测天线之间的互耦等等对测试精度的影响，一般可以采取下列一些措施。

(1) 初级馈源直接辐射问题

设计一种在待测天线方向辐射很弱的初级馈源，并在可以拦截辐射的一些方向上放置高质量吸收材料，可以将初级馈源的直接辐射减低到容许的电平。

(2) 初级馈源及支架的绕射问题

采用偏馈切割抛物面平行校正器并将待测天线装在馈源上方，再在初级馈源和待测天 线之间放些吸收材料，可以大大减小馈源和支架的绕射能量。

(3) 平行校正器边缘的绕射问题

反射器边缘的不连续性妨害了正常电流的流通，并产生与已校平行辐射不同相位的杂 散辐射。减小的办法是对反射器边缘“滚边”，这样，使强绕射边缘被翻卷到反射器后面隐蔽区去了。“滚边”的曲率半径一般以大于最低工作频率的波长为宜，而且，曲率半径愈大效果愈好。

(4) 交叉极化问题

抛物面平行校正器采用长焦距就能降低交叉极化电平。因为，交叉极化分量的大小与反射器形状有关，且在反射面电轴附近交叉极化分量较小，并随焦距增加而减小。

(5) 互耦问题

作为源天线的平行校正抛物面反射器与待测天线间的互耦将造成测量误差，对增益测量影响较为明显。改变收、发天线间距离时，观察接收功率的变化发现：待测天线方向图主瓣对准源天线时，耦合功率变化不超过±0.1dB；用副瓣接收时，能量偶合稍大些。减小互耦的办法是适当配置馈源和测试场地的几何位置，使待测天线只拦截来自源天线平行射束的很小部分。这样，收、发天线间的互耦可以减到最小。

(6) 室内杂散辐射问题

除放置吸收材料以减小来自馈源的直接辐射和在待测天线后方放置吸收板吸收平行射束减小杂散辐射外，还存在待测天线本身及其支座、转台等散射到室内其他部分再反射到待测天线处的杂散辐射。如果这些弱小的杂散辐射超过允许的电平，影响到了测试精度时，则应在测试场地四周再加装吸收材料。

(7) 表面制造公差问题

抛物反射面既然是一个平行校正器，它的制造公差自然会影响入射到待测天线的场是否是平面波前和幅度分布是否均匀的问题，即缩距以后是否还真正模拟了远场区。理论近似估算表明：抛物面顶点附近由于制造公差而使视轴方向某观察点产生的功率变化量为8Δλ，