方向图测量

位面为ABC。

（2）Δ 0≠Δ 1=Δ 2，说明待测天线的相位中心在o,B连线上，相位中心E偏离转轴的距离a可按式（3﹒33）计算，式中的程差d=(Δ 1 Δ 0)λ2π。然后，将待测天线向前（a为正时）或向后（a为负时）移动距离a，反复调整，直到Δ 0=Δ 1=Δ 2为止。

（3）Δ 0≠Δ 1≠Δ 2，说明待测天线相位中心不在B,o连线上，还有横向偏离。可先将待测天线向左（或右）移动，直到Δ 1=Δ 2为止，此时待测天线的相位中心就在O、B连线上了。然后再按上述（2）的步骤调整。

一般调整原则是先左右，再前后，调整完毕后，由待测天线的转轴心确定了天线相位中心的位置了。相位中心偏离情况见图3﹒25。

第六节 近场测量技术

随着射电天文、空间技术和高分辨力雷达天线的迅速发展，对天线增益的要求越来越高，孔径也越做越大，直径可长达3000λ之多。为了满足远场条件，所需测试距离甚至可达几十公里。显然，要在如此大的距离中把不需要的地面和周围物体的杂乱反射保持在要求的电平之下十分困难。同时，要建设这样大的测试场地也不实际或不可能。近场测试技术就是在天线的近场测量得到天线远场辐射特性的技术。显然，这种技术的优点不仅在于克服了建造大测试场的困难，而且对一些不便从工作地点搬运到远离工作点的大型天线来说；对一些需要测试数据很多，所需测试时间较长的天线（如相控阵）来说；以及为保证全天侯都能顺利进行天线测试工作来说，这种技术的优点也是十分突出的。

近场测试技术包括缩距技术、聚焦技术、解析技术等。

一、缩距技术 如前所述，要求在待测天线孔径上的最大相位偏差不超过π时，最小远场测试距离2D2。若要求孔径相位偏差更小时，此距离还要大得多。远场测试条件的实质就是要在待测天线孔径上产生一个振幅均匀、相位偏差较小的近似平面波。如果源天线勿需放在缩短测试距离的区域内模拟出远场条件的话，测试工作就有可能在小于最小远场测试距离的近场内进行了。显然，这种缩距技术的关键在于产生平面波前的源天线。利用此原理建造的测试场也称为紧缩场。

1．透镜平行校正器

透镜天线可用来作为平行校正器，在待测天线处形成一个平面波来模拟远场区。为了得到良好的模拟效果，作为源天线的平行校正器透镜之孔径尺寸通常应比待测天线孔径尺寸大2~4倍以上，否则，由于透镜的散射和边缘绕射效应等，会使测量产生较大的误差。为了消除或减小这些散射和绕射效应，对待测天线提供振幅和相位都均匀的平面波，以提高测试精度，可以采取以下方法。

(1) 无反射表面匹配层法

这种方法是在介质透镜的表面盖一层介质，其折射率在1（空气折射率）和n（透镜