安徽工业大学材料分析方法复习思考题

安徽工业大学材料分析测试技术复习思考题

整理人：季承玺

第一章 X射线的性质

X射线产生的基本原理

1 X射线的本质：电磁波、高能粒子、物质

2 X射线谱：管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等

连续谱短波限只与管电压有关，当固定管电压，增加管电流或改变靶时短波限λ0不变。随管电压增高，连续谱各波长的强度都相应增高，各曲线对应的最大值和短波限λ0都向短波方向移动。

3高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线产生的机理

连续X射线：当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为连续X射线。

特征(标识)X射线：由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。

X射线与物质的相互作用

1两类散射的性质

(1)相干散射：与原子相互作用后光子的能量（波长）不变，而只是改变了方向。这种散射称之为相干散射。

(2)非相干散射:：与原子相互作用后光子的能量一部分传递给了原子，这样入射光的能量改变了，方向亦改变了，它们不会相互干涉，称之为非相干散射。

2二次特征辐射（X射线荧光）、饿歇效应产生的机理与条件

二次特征辐射（X射线荧光）：由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。

俄歇效应：俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后，处于激发态的电子

将产生跃迁，多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子，并将它激发出来。这种效应

称为俄歇效应。

第二章 X射线的方向

晶体几何学基础

1 晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型

晶体：在自然界中，其结构有一定的规律性的物质通常称之为晶体

2 晶向指数、晶面指数（密勒指数）定义、表示方法，在空间点阵中的互对应

晶向指数（略）

晶面指数：对于同一晶体结构的结点平面簇，同一取向的平面不仅相互平行，而且，间距相等，质点分布亦相同，这样一组晶面亦可用一指数来表示，晶面指数的确定方法为：

A、在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，量出它在三个坐标轴上的截距并以点阵周期a、b、c为单位来度量；

B、写出三个截距的倒数；

C、将三个倒数分别乘以分母的最小公倍数，把它们化为三个简单整数h、k、l，再用圆括号括起，即为该组晶面的晶面指数，记为(hkl)。显然，h、k、l为互质整数。

3 晶带、晶带轴、晶带定律，立方晶系的晶面间距表达式

(1)晶带：在晶体结构和空间点阵中平行于某一轴向的所有晶面称为一个晶带。

(2)晶带轴：晶带中通过坐标原点的那条平行直线称为晶带轴。

(3).晶带定律：凡属于 [uvw] 晶带的晶面，它的晶面指数(HKL)必定符合条件：

Hu + Kv + Lw = 0

4 厄瓦尔德作图法及其表述，它与布拉格方程的等同性证明

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