通过标定得到，用两个已知高度的平整物体测量其三维信息。设x= L，y=到这两值。

2πD

，通过一个方程组可以得P

４　　结束语

本文提出了一种基于ＤＭ６４２的嵌入式三维物体表面测量系统。以ＤＭ６４２为核心，基于结构光三维测量原理，在嵌入式系统中实现了条纹编码、投影条纹图像、采集图像、相位展开和点云数据计算的整个过程。实验证明，该系统速度快、稳定性高、独立性强，可以实现物体表面三维信息的测量。

h

x y1=h1　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（４）

Q1

h2

=h2　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（５）Q2

通过解式（４）和式（５）方程组可以得到x和y的值，它x y

们的值如式（６）和式（７）所示。

参考文献：

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x=h1+

h1 h2h121Q1

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（６）

Q2Q1

y=

h1 h2

21　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　（７） Q2Q1

整套系统的流程如图３所示：

图３　　系统整体流程控制图

３　　系统实验结果

本系统实验采用的是４步相移法，每幅图像采用的是正弦图像，每幅图像以四分之周期步进。同时采用７幅格雷编码的图像进行绝对相位计算，从而计算出每个像素点的相位值。本系统采集图片的分辨率为３６０×２８８。图４是应用本文提出的嵌入式三维测量系统测量的结果。

图４　　实际物体系统测量结果

作者简介：骆南（１９８０－），男，助理研究员，研究方向：计算机图像处理与模式识别技术。