封装键合铜线参数指摘(3)

发布时间:2021-06-07

封装键合铜线参数讨论版指摘

续bonding的过程中被震断。。。

2mil 的铜线焊接不会出现这样的情况(焊接能量还不足以震断线),只有LF的设计能满足排线要求就可以。 如果是铝线焊接,如先打gate上的细线(小于等于5mils),再打source上的粗线(超过15mils),gate上的线会震断

有几个疑问

所写:ball shape control, 对于球形,做到ball ratio (ball height/ball size)在18%-31%合理,target 25%, 就是说球的厚度是球大小的1/4。

疑问:一说1/5比较合适。我们公司基本以1/5的基准,还没发现多少不好。

所写:ball shear control, 做到7-9g/mil2的BSS对铜线来说是合理的

疑问:我们的规格是在6以上。而且发现如果过高,比如超过9,就很容易有Peeling现象。 所写:主要看wire pull , new device evaluate时,要测试stitch pull,并且观察鱼尾是否有peeling

郁闷:最近公司在搞新产品。表面镀镍钯金,175温度,纯铜线,无Plasma。就为了个破Stitch Pull,整整搞了2个礼拜,每天工作12个小时以上,才算彻底解决。

对于铜线产品来说,force的参数要设置的比power大是很正常的,,因为要有force足够大时,才能把铜球压成型,相对金线来说,它们的原理是相反的,

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