集成电路

64 中国惯性技术学报 2002年2月

４　　实　例　

下面我们用一个实例来说明ＩＭＳ测试程序。　

８２５５是我们都很熟悉的可编程并行外围接口芯片，有基本输入输出、选通输入输出和选通双向总线输入输出三种工作方式。其程序基本结构为　

①　复位，至少５０微秒。　

②　ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ基本输入输出方式测试：写控制字，将ＡＢＣ口设为基本输入方式；将数据ＡＡ、５５　分别送入ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ口，从Ｄ口读出；写控制字，将ＡＢＣ口设为基本输出方式；将数据ＡＡ、５５分别送入Ｄ口，再从ＰＡ、ＰＢ、ＰＣ口读出。　

③　ＰＡ、ＰＢ选通输入输出方式：写控制字，将ＰＡ、ＰＢ设为选通输入方式；写ＰＣ４中断允许，将数　据ＡＡ、５５从ＰＡ口输入，从Ｄ口读出；写ＰＣ２中断允许，将数据ＡＡ、５５从ＰＢ口输入，从Ｄ口读出。写控制字，将ＰＡ、ＰＢ设为选通输出方式；写ＰＣ６中断允许，将数据ＡＡ、５５从Ｄ口输入，从ＰＡ口读出，写ＰＣ２中断允许，将数据ＡＡ、５５从Ｄ口输入，从ＰＢ口读出。　

④　双向输入输出方式：从Ｄ口写ＰＡ口双向输入输出方式控制字，写ＰＣ６中断允许，写ＰＣ４中断　允许，读ＰＡ口，使ＰＣ５复位，将数据５５送入ＰＡ口，写入ＰＡ口输入锁存器，从Ｄ口读出。将数据ＡＡ送入ＰＡ口输出锁存器，从ＰＡ口读出。　

５　　总结与应用　

ATS60e_Blazer集成电路测试站具有６４个Ｉ／Ｏ测试通道，测试范围宽，可以测试７４／５４系列ＴＴＬ、ＣＭＯＳ、高速ＣＯＭＳ、ＥＣＬ、各种存储器、ＣＰＵ单片机、计算机外围电路、接口电路、通讯电路、时钟电路、ＰＡＬ、ＧＡＬ、ＦＰＧＡ、ＡＳＩＣ电路，配接混合信号子系统可以测试Ａ／Ｄ，Ｄ／Ａ，Ｖ／Ｆ混合信号电路。测试速率为６０　ＭＨｚ，能完整地测试集成电路的直流参数，交流参数，动态功能；具有可编程负载，测试参数时不需要做负载板，软件界面友好，编程方式多样，易学易懂，使用简单，操作方便的优点；还具有极强的扩展升级能力，每增加一块Data Module可以增加１６个Ｉ／Ｏ通道，可扩展到２０８甚至５００多个通道。　

自ATS60e_Blazer集成电路测试站投入使用后，我们在消化资料的基础上，编制了设备操作规程，不断补充测试程序，根据不同器件测试要求补充专用器件夹具板。目前已在该测试系统上完成８０００系列、４０００系列、５４系列存储器，以及可编程逻辑电路等各种类型集成电路近５００多种。除ＣＰＵ外，基本满足了我所对集成电路的测试需求。　参考文献：　

［１］　Stytz M. Virtual reality-research and development projects from the US government[J]. Virtual Reality World, 1994, 2(6).　［２］　李永敏．　数字化测试技术——模拟信号调理、数据转换及采集技术［Ｍ］．北京：航空工业出版社，１９８７．　［３］　沈雷．　CMOS集成电路原理及应用［Ｍ］．　北京：光明日报出版社，１９８６．　［４］　杨适． B-B线性集成电路器件及应用手册［Ｍ］．　北京：光明日报出版社，１９８８．