集成电路

第10卷第1期 中国惯性技术学报 2002年2月 文章编号：1005-6734(2002)01-0060-05

集成电路测试技术与应用

谷　健，田延军，史　文，张晓黎　

（天津航海仪器研究所，天津　３００１３１）　

摘要：通过对ＩＭＳ公司生产的集成电路测试系统ＡＴＳ的描述，讨论了集成电路（ＩＣ）的测试技术及其在ＡＴＳ上的应用方法，并以大规模集成电路芯片８２５５为例，给出一种芯片在该集成电路测试系统上从功能分析到具体测试的使用过程。　关　　键　　词：集成电路；测试；应用　

中图分类号：U666.1 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　文献标识码：A 　

Technique and Application of IC testing

GU Jian, TIAN Yan-jun, SHI Wen, ZHANG Xiao-Li

(Tianjin Navigation Instrument Research Institute, Tianjin 300131, China)

Abstract: This paper describes the IMS Co’s integrated circuit (IC) testing system, i.e. the ATS, and discusses the technique of IC testing as well as its application on ATS. Then using the large scale IC 8255 as an example, the process of the IC testing is demonstrated from function analyzing to testing on ATS.

Key words: IC; testing; application

元器件老化筛选测试是科研生产的重要工作，是质量体系的基本要求之一，也是关系到保证产品质量和市场竞争的重要条件。元器件筛选测试设备是进所复验的主要设备，也是进行故障分析、改进设计的重要手段。按ＧＪＢ／Ｚ９００１质量体系的要求，采购产品必须经进所复验，筛选合格后方可使用，以保证产品质量，提高产品可靠性。　

以前，我们只有小规模数字集成电路测试仪，仅能满足很少一部分小规模数字集成电路的简单功能测试，远远不能满足科研生产的需要。特别是综合导航系统对元器件可靠性要求高，品种规格多，数量大，有许多新品，如陀螺监控器和综合信息处理装置等设备使用的进口集成电路就有几百种，涉及十多个国外集成电路生产厂家。　

经调研我们引进了美国集成测试系统公司（ＩＭＳ）生产的ＡＴＳ集成电路测试系统，它满足了我们对电子元器件测试设备的需求，解决了集成电路测试问题。　１　　ＡＴＳ系统简介　

ＩＭＳ公司是生产集成电路测试站的专业公司，是大型　ＥＤＡ技术公司ＣＡＤＥＮＣＥ的子公司。ＩＭＳ测试站具有很高的性能价格比，有着如图１所示的开放式模块化软硬件体系结构，极强的扩展和升级潜能，完善而友好的人机界面，快速和精确的测试能力以及强有力的后备支持。ＩＭＳ测试站广泛用于设计、　__________________

收稿日期：2001-12-10

作者简介：谷健(1970—)，女，天津航海仪器研究所工程师，现从事电子线路的EDA设计仿真。