对高频率元器件的线性和非线性性能进行精确表征。以及获得更高的子系统集成能力的需求。正在逐渐改变着射频和微波设备的测试方式。本文将详细阐述这个问题。并介绍如何通过在测试系统中添加备用的内置信号发生器。以及通过增加扩展测试端口的数量,更有效地使用矢量网络分析仪(VNA)。此外。本文还介绍了为使校准精度保持双端口S参数测量的水平。VNA校准方法的演进过程。

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使用A in get l矢量网络分析仪解决和射频 微波测量领域的难题Sov e Ha d n tn RF n c o a e Me s r me t y Usn i n N le t r u a dMir w v a u e n sb igAgl t A h i e V■ D v al安捷伦科技公司 a iB l d o

对高频率元器件的线性和非线性性能进行精确表征。以及获得更高的子系统集成能力的需求。正在逐渐改变着射频

实现精确系统仿真关键制在现代无线和航空/国防系统中，

(M至 P A M)的转换和互调失真

( ) I等现象。 MD因此，测量这些特性同样重要。

对射频元器件进行精确的振幅和相位测量极为重要。在系统仿真的设计阶段，需要对基础元器件的数据进行精

最常见的用于表征射频元器件的 设备是矢量网络分析仪 (N )网 V A。“络”是指电气网络，而不是电脑网络。

和微波设备的测试方式。本文将详细阐述这个问题。并介绍如何通过在测试系统中添加备用的内置信号发生器。以及通过增加扩展测试端口的数

确表征，才能确保系统完全在设计规定的参数范围内工作。在制造阶段，精确测量能够保证每个元器件都能符合公布的技术指标。射频系统的基本构建模块，如过滤器、大器、例放混频器、

以前，V A包含一个用于激励的射频 N信号发生器和多个用于测量正向和逆

向的事件、反射和传输信号的测量接收机。传统的 V A拥有两个测试端 1 N: 3,

天线、隔离器和传输线路等通常都需要进行测量。

因为多数早期设备只有一个或两个端

量。更有效地使用矢量网络分

口。测量多于两个端口的设备，意味着需不断移动被测件周围的测试电缆和

析仪 ( A o此外。本文还介 V N绍了为使校准精度保持双端口 S参数测量的水平。V A校准 N方法的演进过程。

对射频元器件应用最广的测量标

准是散射参数，简称 S参数。这些参数表征了射频设备正向和逆向的复杂反

终端直到所有端口测量完毕。下文将为用户介绍更佳的方法。 V A以固定的功率电平通过扫描 N频率测量 S参数，以固定的频率通过扫描功率测量放大器的增益压缩。这

射(振幅和相位)和传输性能。S参数完整地描

述了射频元器件的线性行为，此参数对整个系统仿真非常必要，

但并不足够。相对于理想线性性能的偏置 (形式为非平坦振幅与频率表现

样，就可以轻松地表征线性和非线性

性能。新型 V A带有两个内置射频信 N号发生器，也可以进行 fD测量。而 M

的比和非恒定斜面相位与频率响应的 比)会导致严重的系统退化。射频元器件的非线性性能也会对系统造成损坏。例如，如果放大器的功率电平超过线性范围，则放大器

以前测量 ID需要两个独立的信号发 M生器和一个频谱分析仪。使用 V A的 N方法使设置更为简单、测量时间更短、测量精度更高。如，例带有选件 16的 4

将出现增益压缩、幅度调制向相位调

新型 A in 1. G z 5 3AP AL gl t3 H 2 0 N— e 5 N

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