概率值累积粒度曲线流程(10)

如何做粒度概率曲线流程

根据颗粒大小及岩石致密程度的不同，分别采用5种方法： 1. 直接测量法

用于砾岩，用尺直接测量砾石的直径，测量一定面积内的全部砾石不少于 100个。 2. 筛析法

用于未固结的碎屑岩，用直径不同的筛子将砂过筛，分出不同的粒级组分，称出各自的重量，求出百分含量。 3. 薄片粒度法

用于固结的岩石，在显微镜下，测量薄片中颗粒的直径，并将测量值换算成Φ值，按1/4间隔分组，计算各组内颗粒百分数，每片要求统计300－500颗粒。 4. 沉降法：用颗粒沉降速度来划分粒级分布。

5. 激光粒度仪法: 采用光学原理，通过测量颗粒群的空间频谱来分析其粒度分布。 粒度和杂基校正

粒度校正：运用上述不同的方法所得到的结果可能有偏差，如薄片粒度与筛析粒径之间的偏差可达0.25Φ或更大，这是切片效应造成的结果（切片效应：在颗粒集合体的切片中，颗粒的视直径平均值小于真直径），必须进行校正。弗里德曼（1962）提出的粒度校正回归方程是： D=0.3815+0.9027d D－校正后筛析直径Φ; d－薄片中视直径Φ

杂基校正：薄片粒度法分析法，也要做杂基校正。方法是用显微镜测的杂基含量（由于切片效应和成岩后生作用，其值一般较高）的2/3或1/2为校正值，假定为X，将各累计频率乘以（100－X）作为该粒级的真正百分含量。