PS700 电池监控器 21760f_cn(4)
发布时间:2021-06-08
发布时间:2021-06-08
PS700 电池监控器 21760f_cn
PS700
3.0
3.1
3.1.1
操作描述
A/D 和累加器/定时器操作
A/D 转换周期
如前所述,可通过设置以确定每一寄存器的输入源。 在任一控制寄存器中都包含有一个由三个数据位组成的多路通道选择字段,用以在7种A/D转换输入源中选择一个。各输入源如下所示:
充/放电电流 (SR 引脚与GND之间的电压) 内部温度传感器
外部热敏电阻( NTC 引脚处的恒流源)
电池组电压VC1 引脚电压VC2 引脚电压
A/D 偏移(转换执行时该输入引脚内部短接以确定转换器的偏移误差)
当A/D转换器被使能且处于激活状态时,它将重复执行一个介于1次到8次转换的循环工作周期,具体次数由用户通过对8个A/D 控制寄存器进行设置而定。通过这些寄存器可以确定转换输入源、分辨率、参考电压源以及A/D转换器周期的转换次序。在转换周期内,A/D控制逻辑将依次访问各个寄存器并执行这些寄存器中相关控制位所指定的转换操作。A/D 控制寄存器包含有一个使能控制位、一个用来选择分辨率的字段、一个用于选择单端或差分参考电压的选择位以及一个用于选择多路模拟转换通道的字段。每一次转换的结果将存放在相应的16位结果寄存器中(共计8个)。如果某一控制寄存器的“使能”位置“1”,则将执行相应的转换操作。如果使能被禁止,该转换操作将被跳过且 A/D控制逻辑会继续访问下一寄存器。这样,用户可以确定每一个A/D周期内的转换次序。
累加器/定时器功能与特定的A/D 结果寄存器一一对应。鉴于此,控制/结果寄存器的命名均表明了其主要用途。(见表3-1)。
表3-1:
A/D 寄存器编号
01234567
A/D控制/结果寄存器
控制寄存器
IctrlITctrlETctrlVPctrlVC1ctrlVC2ctrlOFFSctrlAUXctrl
结果寄存器
IresITresETresVPresVC1resVC2resOFFSresAUXres
内部温度传感器
外部温度传感器
电池组电压 (VC1 与 GND之间)电池电压 (VC1与 VC2之间)电池电压 (VC2与 GND之间)
内部A/D 偏移电压 (A/D 输入引脚自动内部短接至GND)任意
LSB值可用下式表示为所选择分辨率位数的函数:
A/D LSB = 680/340 mV/2n其中:
“n”代表所选择分辨率的位数。
具体结果则以符号/幅值格式表示(即,由一个符号位和 15个幅值位组成)。15S
幅值
输入源
电池组电流 (流经检测电阻)
每一个 A/D 控制寄存器都包含有一个由三个数据位组
成的“分辨率”字段,用于确定转换的分辨率。分辨率等级从最小9 位(8个幅值位加一个符号位) 至最大16位(15 个幅值位加一个符号位)。转换一次所需的时间是所选择分辨率位数(n)的函数。转换时间可按下式计算:
TADC = 30.52 µs * 2n其中:
“n”是所选择分辨率的位数
“Ref”控制位用来选择参考电压幅值,可供选择的参考电压有±340mV或 ±170mV。±170 mV 参考电压一般用于电流测量,而±340mV 参考电压则用于所有其它测量。
2004 Microchip Technology Inc.DS21760F_CN 第5页
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