MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(9)
发布时间:2021-06-06
发布时间:2021-06-06
典型的MLCC电容外应力导致失效的诱因.
端加强36VDC全检测试项目,测试进行线上全程跟踪把关,并没有出现烧电容现象。)基于以上现象分析从可靠性角度说,是属于机械应力或热冲击失效后导致烧毁,不可能由电路性能上引起烧毁器件。
后续建议:对G03H电容C27 C39改用不同规格封装来避免出现由于CM0050M028厚度较薄导致物理应力损伤,也可考虑更改PCB布局来改变C27 C39放置方向避免生产过程导致电容损伤。
实验分析
2012年
上一篇:高考模拟默写题