MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(9)

发布时间:2021-06-06

典型的MLCC电容外应力导致失效的诱因.

端加强36VDC全检测试项目,测试进行线上全程跟踪把关,并没有出现烧电容现象。)基于以上现象分析从可靠性角度说,是属于机械应力或热冲击失效后导致烧毁,不可能由电路性能上引起烧毁器件。

后续建议:对G03H电容C27 C39改用不同规格封装来避免出现由于CM0050M028厚度较薄导致物理应力损伤,也可考虑更改PCB布局来改变C27 C39放置方向避免生产过程导致电容损伤。

实验分析

2012年

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