MLCC电容物理应力导致击穿问题案例(8)
发布时间:2021-06-06
发布时间:2021-06-06
典型的MLCC电容外应力导致失效的诱因.
对破裂的电容进行上电耐压测试,12V起步/1V为单位步进上电,当电压到31V时,上电电容即冒火花烧毁!即,电容是为“过压”烧,但前因是电容因受机械应力导致参数下降(50V的耐压下降到31V)。后续隐患存在及个人建议:是不是有很多产品是在电容开裂的情况下出货,而这些产品大多数并不是工作在12VDC以上工作环境,表明上看起来工作是“很”正常。
附上烧毁后电容图如下:
3.破坏测试:
领PCB空板8拼1块焊上电容做掰板动作,也没有出现电容裂痕情况,由于今天产线没有排场SG2000-G03H(G600)生产,无法从制程上追溯故障产生原因。
(在6月23号安排200套生产,各段除正常生产调试外,额外设置了针对C27/C39两
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