第八章 X射线显微分析

时间:2025-07-07

第八章 x射线显微分析

第一节 第二节 第三节 第四节

基本知识 波谱仪 能谱仪 X射线微区分析的方法

8.1.1 基本知识X射线微区分析技术是把样品的超微结构的观察与化 学元素的分析有机结合起来的一门比较新的电镜技术。 它可以对样品中小于一个微米的确定的区域进行化学 元素的定性、定量及其分布状况的分析。这种方法对 样品损伤小,能较好的保存样品的超微结构,操作也 较简单,所以广泛应用于生物医学、环境学、物理学 和地质矿物学等领域。

特征X射线 :当样品受到高能电子束的轰击时,样品 中原子的内层电子脱离较低的能级层,使原子处于受 激发状态,原子系统的能量升高。接着,处于较高能 级的外层电子迅速跃迁到有空位的内层,并释放多于 的能量,使原子系统能量回降。外层电子释放出的能 量等于电子跃迁前后能级之间的能量差,且这种能量 将转变成X射线的辐射能。因为每层电子能级间的能量 大小是不同的,且不同的元素有不同的能量确定值, 所以电子跃迁前后能级间的能量差也是定值,进而转 变成X射线的辐射能的值也会是确定值。把这种确定的 X射线称为特征X射线。

空间分辨率:包括横向分辨率和深度分辨率两部分。它们的产生是由大部 分入射电子束到达样品时,仍有多于的能量,因而使电子在样品中沿纵深 方向穿行,并横向弹性散射,使样品中较大的体积范围内产生X射线。与入 射电子束的直径相比,样品中产生X射线的体积的深度和水平方向的长度都 要大许多,把这个体积中的包含了产生90%以上X射线的那部分算作有效分 辨率。由于是一种立体的概念,所以又称为空间分辨率。 对于透射电镜附设的X射线显微分析仪,空间分辨率的大小与电子束的能量、 样品的厚度和样品的密度等有直接的关系。一般对于200nm的超薄样品,选 用80KV以上的加速电压,可以使绝大部分入射电子穿透样品,减少电子在 样品中的横向扩散,缩小产生X射线的体积,从而提高空间分辨率。对于扫 描电镜附设的X射线显微分析,空间分辨率的大小与加速电压、样品的密度 和发射X射线的元素等直接相关。不同的元素受到同样电子束的宏基时其弹 性散射的能力是不同额,所以产生X射线的体积也是不同的,导致空间分辨 率的不同。产生X射线的体积越小,空间分辨率越高。

众所周知,X 射线是一种电磁辐射,具有波粒 二象性, 因此可以用二种方式对它进行描述。 如果把它视为连续的电磁波,那么特征X 射线 就能看成具有固定波长的电磁波,不同元素就 对应不同的特征X 射线波长,如果不同X 射线 入射到晶体上,就会产生

衍射,根据Bragg 公 式: 2dsinθ=nλ 可以选用已知面间距d 的合适 晶体分光,只要测出不同特征射线所产生的衍 射角2θ,就可以求出其波长λ,再根据公式(8·1) 就可以知道所分析的元素种类,特征X 射线的 强度是从波谱仪的探测器(正比计数管)测得。 根据以上原理制成的谱仪称为波长色散谱仪 (WDS)

能量色散谱仪 如果把 X 射线看成由一些不连续的光子组成, 光子的能量为 E= hν,h为普朗克常数,ν为光子振动频率。不同元素发出的特征 X 射线具有不同频率, 即具有不同能量,当不同能量的X射线光 子进入锂漂移硅[Si(Li)]探测器后,在Si(Li)晶体内将产生电子-空 穴对,在低温(如液氮冷却探测器)条件下,产生一个电子-空 穴对平均消耗能量ε为3.8eV。能量为E 的X 射线光子进入Si(Li)晶 体激发的电子-空穴对N=E/ε,入射光子的能量不同,所激发出的 电子-空穴对数目也不同,例如,Mn Kα能量为5.895keV,形成的 电子-空穴对为1550 个。探测器输出的电压脉冲高度,由电子- 空穴对的数目N 决定,由于电压脉冲信号非常小,为了降低噪音, 探测器用液氮冷却,然后用前置放大器对信号放大,放大后的信 号进入多道脉冲高度分析器, 把不同能量的 X 射线光子分开来, 并在输出设备(如显像管)上显示出脉冲数—脉冲高度曲线,纵 坐标是脉冲数,与所分析元素含量有关,横坐标为 脉冲高度,与元素种类有关,这样就可以测出X 射线光子的能量 和强度,从而得出所分析元素的种类和含量,这种谱仪称为能量 色散谱仪(EDS),简称能谱仪。

能谱仪70 年代问世以来,发展速度很快,现在分辨率 已达到30eV 左右,以前Be 窗口能谱仪分析元素范围 从11Na-92U,现在用新型有机膜,分析元素可从4Be -92U。元素定性、定量分析软件也有很大改善,中等 原子序数的元素定量分析准确度已接近波谱定量结果, 近年来能谱仪的图象处理和图象分析功能发展很快。 探测器的性能也有提高,能谱使用时加液氮,不使用 时不加液氮。有的能谱探测器用电制冷方法冷却,使 探头维护更方便。能谱有许多优点,例如,元素分析 时能谱是同时测量所有元素,而波谱要一个一个元素 测量,所以分析速度远比波谱快。能谱探头紧靠样品, 使X 射线收集效率提高,这有利于样品表面光洁度不 好及粉体样品的元素定性、定量分析。另外,能谱分 析时所需探针电流小,对电子束照射后易损伤的样品, 例如生物样品、快离子导体样品等损伤小。但能谱也 有缺点,如分辨率差,谱峰重叠严重,定量分析结果 一般不如波谱等。

8.2 波谱仪全称波长色散谱仪,主要由分光晶体、流 …… 此处隐藏:2023字,全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……

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