1c.G.657光纤λcc测试条件研究
时间:2025-03-10
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2011’光纤光缆及光器件产品技术研讨会技术篇
657光纤A∞测试条件研究
陈国庆‘
工业和信息化部信息传输线质量监督检验中心
摘要:按已有的标准方法采用“传输功率技术”测试t2657弯曲损耗不敏感光纤k似有新的问题。这是由于光
纤中光功率传输特性的差异所导致的。为此应在方法中考虑相应的测试条件,而沿用原有的条件是值得
推敲的。本文对此进行了分析和验证,以期随着新型光纤的研发,k测试标准方法也有相应的针对性,
保证测试结果的正确可靠。
关键词:弯曲损耗不敏感光纤;截止波长;传输功率技术;测试
0引言
G657弯曲损耗不敏感光纤在当前乃至今后一个时期的光纤接入网包括FTTx等技术中已经和将有广泛的应用。作为单模光纤,截止波长是一项重要的特性参数,它对于应用而言会直接影响信号传输质量。所以包括G657光纤在内的所有单模光纤,无论设计还是应用,都十分重视这项参数,由此对这项参数的测试也备受关注。由于(2657光纤相比于其它单模光纤的抗弯性能(bending.10ssinsensitivenature)对于目前为止所采用的截止波长标准测试方法中的技术具有关键的影响,所以对此进行深入探讨十分必要。
1技术背景
11.U.T于2006年首次颁布了(2657弯曲损耗不敏感光纤建议书,作为该光纤的技术规范,其中包括成缆光纤截止波长A。≤1260nm。此后2009年该建议书的新版也有如此规定。众所周知,一般对于成缆使用的光纤,截止波长更重要的是五∞,因为只有k决定光缆的单模运行和宏弯损耗性能。
从宏弯性能角度,包括(2652光纤在内的相对于弯曲损耗不敏感特性的光纤,为改善成缆光纤的宏弯损耗性能,将光纤截止波长五。设计成大于工作波长,而缆结构对光纤的弯曲作用,截止波长变短至小于工作波长,不至于比工作波长短太多而降低宏弯损耗性能。基于上述情况,标准中专门规定了成缆光纤截止波长k的测试方法。按当时光纤产品研发进程,该测试方法包括测试条件事实上是针对诸如t2652之类非弯曲损耗不敏感光纤的,而用于弯曲损耗不敏感光纤,由于测试方法采用的技术原理本身就与光纤的弯曲有关,因此在测试样品弯曲状态和条件上需要有针对性的研究,而并非如目前标准中仅在进行参考或基准传输功率(referencetransmittedpower)测试时对(2657光纤的情况作区别规定(不采用多模光纤作为基准测试时),如在单模样品上打更小 技术主管高级工程师..70..
技术篇2011’光纤光缆及光器件产品技术研讨会
直径的圈;此外,对基准传输功率测试建议采用多模光纤的方案。
以下将对本方法关键点即测试样品状态要求进行讨论。
2基本概念
众所周知,单模光纤单模运行条件由光纤归一化频率
V=(2z姐nl/21NA(1)
决定。显然,当诸如芯半径a、芯折射率玎l和NA等光纤结构参数确定之后,改变光纤中传输光的波长将改变y值,而y值对应光纤中传输模式的情况。相对于基模(fundamentalmode)巩1
power模传输,第一高阶模LPll模的传输和截止对应于光纤中传输的总功率的上升和下降。ITU.TG650.1规定的k标准测试方法采用的就是基于上述原理的“传输功率技术(transmitted
technique)”。
从该方法的基本原理出发,我们进一步论述光纤宏弯产生的作用,以及对于不同的光纤(主要指宏弯特性不同)这种作用的差异,从而探讨作为k测试条件对弯曲损耗不敏感光纤适用性考虑的必要性。
由光纤归一化截止频率圪可导出截止波长:
A。f=(2rtanl/圪)NA(2)
由此可见,如果改变光纤有效结构参数,则将改变实际b。对于光纤成缆以后的情况,由于光纤受到某种弯曲,实际上改变了光纤有效结构参数(主要是NA或折射率分布),从而使如变为k,即截止波长变短了,这就是光缆截止波长及其意义。不言而喻,对于不同的光纤设计(结构参数),同样弯曲条件产生的光纤有效结构参数改变是有差异的,所以ITU.TG650.1截止波长测试方法中,基准(reference)测试采用单模光纤试样上环圈弯曲的方法(方法a))时对G657光纤提出更小半径的环圈,或建议采用方法b),即采用多模光纤,因为采用方法a)可能不充分(adequate)。实践证明,这项针对G657光纤的规定十分必要,然而作为能够适用于G657光纤的完满测试方法,同时应充分考虑恰当规范测试样品的状态,即模拟成缆及实际安装使用的情况。这是本文讨论的问题关键。
之前规定的测试样品是采用22m的光缆或同样长度的光纤,试样两端各环一个直径为80mm的圈,模拟实际使用中接头盒贮纤的弯曲条件。此外,后者中间部分环成直径不小于280ll'krn的圈。对于包括G652光纤在内的非弯曲损耗不敏感光纤,该技 …… 此处隐藏:1508字,全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……