晶硅太阳能电池i层厚度优化的数值模拟

发布时间:2024-10-30

天若有情天亦老,人学物理数学金融生物死得早

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堡堕!Q丝二塑堑
CNIl一2034/T
实验技术与管理
Experimental Technology
第24卷第12期2007年12月
V01.24 No.12 Dee.2007
and
Management
非晶硅太阳能电池i层厚度 优化的数值模拟
姚若河,郑佳华
(华南理工大学物理科学与技术学院,广东广州 510640)
摘要:应用AMPS一1D软件对非晶硅太阳能电池的-,一l,特性进行了模拟研究,重点模拟分析了i层厚度 对P—i-n结构非晶硅太阳能电池特性参数的影响。 关键词:太阳能电池;非晶硅;数值模拟 中图分类号:TP39 文献标识码:B 文章编号:1002-4956(2007)12-0067-02
Numerical simulation of i—layers thickness
on
a—Si:H P—i-n solar cell devices
YAO Ruo—he,Zheng Jia—hua
(School
of Physics,South China University of Technology,Guangzhou
510640,China)
Abstract:The AMPS一1 D(analysis of microelectronic and photonic characteristics
structures)was
used
on
to
module the light
J-V
of a—Si:H P—i-n solar cell devices.The effects of the i-layers thickness
the light
J—V characteris—
tics have been examined. Key words:solar cell;a—Si:H;numericM simulation
太阳能是一种清洁、无污染、取之不尽用之不 竭的自然能源,将太阳能转换为电能是大
规模利用 太阳能的重要技术基础。半导体太阳能电池利用半 导体的光生伏特效应直接将太阳能转化为电能,技 术比较成熟。在硅系列电池中,由于非晶硅对阳光 的吸收系数高,活性层只需1¨m厚,材料的需求 量大大减少;沉积温度低,可直接沉积在玻璃、不 锈钢和塑料膜等廉价的衬底材料上;生产成

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本低, 具有单片电池面积大、适于工业化大规模生产等优 点而受到重视。
形成P—i-n结构。图1中,衬底为n型非晶硅,顶 层为P型的非晶SiC材料,中间缓冲层为本征非晶 硅,主要结构参数和模拟参数见表1。
图1
P·i-11结构非晶硅太阳能电池结构示意图 P-i·n结构非晶硅太阳能电池的模型参数
参数 P层 (a_SiC) i层 (a-si)
1.80 1.72 4.00
11.9
表1
1模型结构与模拟原理
1.1器件结构 典型的非晶硅太阳能电池结构如图1所示。非 晶硅中由于原子排列缺少结晶硅的规则性,缺陷 多,因此,要在P层与n层之间加入本征层i层,
收稿日期:2007—02—28 作者简介:姚若河(196l一),男,广东省揭阳市人。博士,教 授。从事半导体器件及物理的教学和科研工作.
n层 (a_Si)
1.80
迁移率带隙/eV 光学带隙/eV 电子亲和能/eV 相对介电常数占 有效态密度Nc/(cm。3eV一) Nv/(cm一3eV一1)
1.96 1.90
3.92 11.9
1.72 4.00 11.9 2.5×1020 2.5×1020
2.5 X1020 2.5×1020
2.5×1020 2.5×1020
万   方数据
实验技术与管理
续表 参数 电子迁移率 p。/(cm2V一18—1) 空穴迁移率 /.z。/(cm2V一8—1) 价带尾态特征能量迁移 率ED/eV 导带尾态特征能量迁移 率E^/eV 掺杂浓度/cm q Gdo/(cm。3eV一1) G。/(cm一3eV一1)
EooN/eV 0.2
其中,L为电子的电流密度,有L(菇)=舭。n
i层 (a-Si) n层 (a-Si)
P层 (a-SiC)
f兰孕1,E州为电子的准费米能级;矗为空穴的电
O.5


流密度,Jp(石)=舭,凡(警),EEp.为空穴的准费米
能级;Go,(茗)为电子空穴对的光生效率,为位置菇 的函数。运用数值计算方法求解方程(1)、(2)、 (3)中的砂(茗)、p(x)、n(x)进而求出各特性参数。
0.05
0.05
0.07
O.03
O.03
2模拟结果分析
N^=3×10”
1.0×1019 1.0×1019 1.24 1.14
3×10TM 1.0×1019 1.0×1019
ND=1×1019 1.0×1019 1.0×1019 1.12 1.02
3×10I

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对P—i.n结构非晶硅太阳能电池模拟时,光照 条件为AMl.5,100 mW/cm2,光从P型非晶硅层 入射到器件中。 为了研究i层厚度对器件性能的影响,将P层 和n层的厚度分别固定为8 am和15 nm,i层厚度 分别取10
am、50 nm、100 nm、200 n/ll、300
Rill、
1.12 1.02 5×1016
EAce/eV
隙问定域态分:砟//cm。3
1.2模拟原理 模拟在态密度(DOS)模式下进行。对于非晶 硅来说,带尾定域态相当重要,使用指数函数来模 拟,用高斯分布来描述非晶硅的悬挂键。对P—i—n 结构非晶硅太阳能电池,若给出各层半导体材料的 能带结构、电子态密度分布、空穴态密度分布和电 子亲和能等,根据半导体器件3个基本方程:泊松 方程,电子连续性方程和空穴连续性方程,在适当 的边界条件下即可求解出器件的特性。 泊松方程把材料体系中的自由载流子数目,受 陷电子和受陷空穴数目,离化杂质数目等和静电场 联系起来。泊松方程表示为
400 am、500 nm、600 am、700
nm。模拟不同i层
厚度条件下光电池的开路电压‰、短路电流氏、
填充因子FF和光电转换效率卵随i层厚度变化的 情况,模拟结果如图2所示。
由图2可见,随着i层厚度的增加‰、氏、
FF和叼都先增大,到达一最大值后又随i层厚度 的进一步增加而减小。 对短路电流,一般可表示为
k=矗一州exp学一1】·
(4)
当i层厚度比较薄时,随着i层厚度的增大,光生
载流子增加,光生电流密度以增大,反向饱和电
期占(茗)警]=q×[p(髫)一n(石)+瞒(石)一
Ⅳ二(石)+p。(菇)一n。(Ⅳ)], (1) 其中,沙为器件中石点单位正电荷电势;P(石),
流密度厶不变的情况下氏增大。当i层厚度增加
到一定程度时,使内建电场强度分布明显受影响,
光生载流子得不到有效的收集,从而使如下降。
对‰和FF有:
n(x)分别为自由空穴和自由电子的浓度;Ⅳ;(髫),
N2(石)分别为电离施主浓度和电离受主浓度; P。(x),i
lt(髫)分别为受陷空穴和受陷电子浓度; gA(E)为带隙中单位体积单位能量的类受主态密度 连续分布函数;^(E)为能量为E的能态被一个电
FF一[,一In,LJ.,:o]{·一器)H1·
律也应是先增大后减小。 (下转第73页)
‰=弘(鲁)叫,
(5)

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(6)
子占据的概率;gD(E)为带隙中单位体积单位能量
的类施主态密度连续分布函数;厶(E)为能量为E 的能态被一个空穴占据的概率。
可知,‰正比于氏,所以其变化规律与氏相似。
对于,7,有叼:丁Psp/A,PmP:,m比为最佳功率
在稳态条件下,若自由载流子的浓度不随时间
变化,则自由电子和自由空穴的连续性方程分别为
输出,A为电池正面曝光面积(cm2),P。为每 cm2的光照功率输入,所以P。不变,叼的变化规
÷(警1_一G。。(菇)+尺(石), q、似,
(2) (3)
÷f学1=Go,(戈)一R(茹),
万   方数据
聂伟,等:基于SOP(:的Turbo码实验平台设计
73
Builder中定制生成的Nios II软核处理器实现了基 于SOP(:的Turbo码实验平台。其中MCU控制、键 盘扫描及液晶显示模块的程序在Nios
II IDE
[1]寇艳红,杨枫,陈雁.通信原理开放性实验项目设计[J].实 验技术与管理,2005,22(11):105—107. E2]BERROU C,GLAVIEUX A,THITIMAJSHlMA
limit目3t-or-correcting P.Near
Shannon
6.0中
coding and
decoding:turbo—codes[c].Proc
用C语言实现,FPGA用户逻辑部分的程序用 VHDL硬件描述语言编写并在Quartus
II
ICC’93,Geneva,Switzerland,May 1993.
6.0环境
[3]张庆治,刘巧艳.基于FPGA的Turbo码译码器设计与实现 [J].北京电子科技学院学报,2004,12(4):47·51. [4]刘小同,万国春,陈岚.基于Max—Log—MAP算法的Turbo码的 硬件设计与实现[J].江西科技师范学院学报,2005,8(4):
8.16.
下完成了仿真、综合及下载。通过在液晶上实时显 示实验过程中Turbo编译码器的工作参数及接收到
误码的信
息帧的数目,使学生能够清楚地理解Tur-
bo编译码器各个环节的作用及整个实验的数据流 程。SOPC的实现技术使得学生可以很容易地修改 各模块的程序代码,从而实现对Turbo编译码算法 的研究和改进。 参考文献(References):
[5]刘东华.Turbo码原理与应用技术[M]

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.北京:电子工业出版 社。2004. [6]袁东风,张海霞.宽带移动通信中的先进信道编码技术[M]. 北京:北京邮电大学出版社,2004. [7]潘松,黄继业.曾毓.SOPC技术实用教程[M].北京:清华大 学出版社,2005.
(上接第68页)
6 5 4 3 2

1 0 9 8 7 8 5 4 3 2

毫 鼍

i-layer thickness/nm
图2
Voc,Jsc。耶和呀随i层厚度的变化
1094—1098.
3结论
本文用AMPS一1D对P—i—n结构非晶硅太阳能 电池的.,一y特性进行模拟,研究了i层厚度对非
[2]R Martins,I Ferreira,V Silva,et a1.Engineering of a.si:H de-
vice
stability by
suitable
design of interface[J].solar
Energy
Mater&SolarCells,2002(73):39—49. [3]胡志华,廖显伯,曾湘波,等.纳米硅(nc—Si:H)/晶体硅 (c.Si)异质结太阳电池的数值模拟分析[J].物理学报, 2003,52(1):217·224. [4]胡志华,廖显伯,刁宏伟,等.非晶硅太阳电池光照J—V特性 的AMPS模拟[J].物理学报,2005,54(5):2302—2306. [5]刘瑶,姚若河.扩散P-n结内建电场的数值分析[J].广西物 理,2005,26(1):16-21. [6]刘恩科,朱秉升,罗晋生,等.半导体物理学[M].北京:国 防工业出版社,1994. [7]仓田衡.半导体器件的数值分析[M].北京:电子工业出版 社,1985.
晶硅太阳能电池特性参数的影响。从模拟结果看,
y&,氏,FF和叼的理论最大值处在i层厚度为50
~400
nm范围内,且对应于不同的i层厚度。为了
获得最优的电池性能,应综合考虑‰,k,FF
和叼的取值。 参考文献(References):
[1]R Martins,I Ferreir
a,A Cabrita,et a1.Improvement of a-Si:H
device stability and performances by
proper
design
0f interfaces
[J].Journal
of
Non-Crystalline

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Solids,2000(266):
万   方数据
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CNIl一2034/T
实验技术与管理
Experimental Technology
第24卷第12期2007年12月
V01.24 No.12 Dee.2007
and
Management
非晶硅太阳能电池i层厚度 优化的数值模拟
姚若河,郑佳华
(华南理工大学物理科学与技术学院,广东广州 510640)
摘要:应用AMPS一1D软件对非晶硅太阳能电池的-,一l,特性进行了模拟研究,重点模拟分析了i层厚度 对P—i-n结构非晶硅太阳能电池特性参数的影响。 关键词:太阳能电池;非晶硅;数值模拟 中图分类号:TP39 文献标识码:B 文章编号:1002-4956(2007)12-0067-02
Numerical simulation of i—layers thickness
on
a—Si:H P—i-n solar cell devices
YAO Ruo—he,Zheng Jia—hua
(School
of Physics,South China University of Technology,Guangzhou
510640,China)
Abstract:The AMPS一1 D(analysis of microelectronic and photonic characteristics
structures)was
used
on
to
module the light
J-V
of a—Si:H P—i-n solar cell devices.The effects of the i-layers thickness
the light
J—V characteris—
tics have been examined. Key words:solar cell;a—Si:H;numericM simulation

太阳能是一种清洁、无污染、取之不尽用之不 竭的自然能源,将太阳能转换为电能是大规模利用 太阳能的重要技术基础。半导体太阳能电池利用半 导体的光生伏特效应直接将太阳能转化为电能,技 术比较成熟。在硅系列电池中,由于非晶硅对阳光 的吸收系数高,活性层只需1¨m厚,材料的需求 量大大

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减少;沉积温度低,可直接沉积在玻璃、不 锈钢和塑料膜等廉价的衬底材料上;生产成本低, 具有单片电池面积大、适于工业化大规模生产等优 点而受到重视。
形成P—i-n结构。图1中,衬底为n型非晶硅,顶 层为P型的非晶SiC材料,中间缓冲层为本征非晶 硅,主要结构参数和模拟参数见表1。
图1
P·i-11结构非晶硅太阳能电池结构示意图 P-i·n结构非晶硅太阳能电池的模型参数
参数 P层 (a_SiC) i层 (a-si)
1.80 1.72 4.00
11.9
表1
1模型结构与模拟原理
1.1器件结构 典型的非晶硅太阳能电池结构如图1所示。非 晶硅中由于原子排列缺少结晶硅的规则性,缺陷 多,因此,要在P层与n层之间加入本征层i层,
收稿日期:2007—02—28 作者简介:姚若河(196l一),男,广东省揭阳市人。博士,教 授。从事半导体器件及物理的教学和科研工作.
n层 (a_Si)
1.80
迁移率带隙/eV 光学带隙/eV 电子亲和能/eV 相对介电常数占 有效态密度Nc/(cm。3eV一) Nv/(cm一3eV一1)
1.96 1.90
3.92 11.9
1.72 4.00 11.9 2.5×1020 2.5×1020
2.5 X1020 2.5×1020
2.5×1020 2.5×1020
万   方数据
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续表 参数 电子迁移率 p。/(cm2V一18—1) 空穴迁移率 /.z。/(cm2V一8—1) 价带尾态特征能量迁移 率ED/eV 导带尾态特征能量迁移 率E^/eV 掺杂浓度/cm q Gdo/(cm。3eV一1) G。/(cm一3eV一1)
EooN/eV 0.2
其中,L为电子的电流密度,有L(菇)=舭。n
i层 (a-Si) n层 (a-Si)
P层 (a-SiC)
f兰孕1,E州为电子的准费米能级;矗为空穴的电
O.5


流密度,Jp(石)=舭,凡(警),EEp.为空穴的准费米
能级;Go,(茗)为电子空穴对的光生效率,为位置菇 的函数。运用数值计算方法求解方程(1)、(2)、 (3)中的砂(茗)、p(x)、n(x)进而求
出各特性参数。
0.05
0.05
0.07
O.03
O.03
2模拟结果分析
N^=3×10” 1.0×1019 1.0×1019 1.24 1.14
3×10TM 1.0×1019 1.0×1019
ND

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=1×1019 1.0×1019 1.0×1019 1.12 1.02
3×10Is
对P—i.n结构非晶硅太阳能电池模拟时,光照 条件为AMl.5,100 mW/cm2,光从P型非晶硅层 入射到器件中。 为了研究i层厚度对器件性能的影响,将P层 和n层的厚度分别固定为8 am和15 nm,i层厚度 分别取10
am、50 nm、100 nm、200 n/ll、300
Rill、
1.12 1.02 5×1016
EAce/eV
隙问定域态分:砟//cm。3
1.2模拟原理 模拟在态密度(DOS)模式下进行。对于非晶 硅来说,带尾定域态相当重要,使用指数函数来模 拟,用高斯分布来描述非晶硅的悬挂键。对P—i—n 结构非晶硅太阳能电池,若给出各层半导体材料的 能带结构、电子态密度分布、空穴态密度分布和电 子亲和能等,根据半导体器件3个基本方程:泊松 方程,电子连续性方程和空穴连续性方程,在适当 的边界条件下即可求解出器件的特性。 泊松方程把材料体系中的自由载流子数目,受 陷电子和受陷空穴数目,离化杂质数目等和静电场 联系起来。泊松方程表示为
400 am、500 nm、600 am、700
nm。模拟不同i层
厚度条件下光电池的开路电压‰、短路电流氏、
填充因子FF和光电转换效率卵随i层厚度变化的 情况,模拟结果如图2所示。
由图2可见,随着i层厚度的增加‰、氏、
FF和叼都先增大,到达一最大值后又随i层厚度 的进一步增加而减小。 对短路电流,一般可表示为
k=矗一州exp学一1】·
(4)
当i层厚度比较薄时,随着i层厚度的增大,光生
载流子增加,光生电流密度以增大,反向饱和电
期占(茗)警]=q×[p(髫)一n(石)+瞒(石)一
Ⅳ二(石)+p。(菇)一n。(Ⅳ)], (1) 其中,沙为器件中石点单位正电荷电势;P(石),
流密度厶不变的情况下氏增大。当i层厚度增加
到一定程度时,使内建电场强度分布明显受影响,
光生载流子得不到有效的收集,从而使如下降。
对‰和FF有:
n(x)分别为自由空穴和自由电子的浓度;Ⅳ
;(髫),
N2(石)分别为电离施主浓度和电离受主浓度; P。(x),ilt(髫)分别为受陷空穴和受陷电子浓度; gA(E)为带隙中单位体积单位能量的类受主态密度 连续分布函数;^(E)为能量为E的能态被一个电
FF一[,一In,LJ.,:o]{·一器)H1·

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律也应是先增大后减小。 (下转第73页)
‰=弘(鲁)叫,
(5)
(6)
子占据的概率;gD(E)为带隙中单位体积单位能量
的类施主态密度连续分布函数;厶(E)为能量为E 的能态被一个空穴占据的概率。
可知,‰正比于氏,所以其变化规律与氏相似。
对于,7,有叼:丁Psp/A,PmP:,m比为最佳功率
在稳态条件下,若自由载流子的浓度不随时间
变化,则自由电子和自由空穴的连续性方程分别为
输出,A为电池正面曝光面积(cm2),P。为每 cm2的光照功率输入,所以P。不变,叼的变化规
÷(警1_一G。。(菇)+尺(石), q、似,
(2) (3)
÷f学1=Go,(戈)一R(茹),
万   方数据
聂伟,等:基于SOP(:的Turbo码实验平台设计
73
Builder中定制生成的Nios II软核处理器实现了基 于SOP(:的Turbo码实验平台。其中MCU控制、键 盘扫描及液晶显示模块的程序在Nios
II IDE
[1]寇艳红,杨枫,陈雁.通信原理开放性实验项目设计[J].实 验技术与管理,2005,22(11):105—107. E2]BERROU C,GLAVIEUX A,THITIMAJSHlMA
limit目3t-or-correcting P.Near
Shannon
6.0中
coding and
decoding:turbo—codes[c].Proc
用C语言实现,FPGA用户逻辑部分的程序用 VHDL硬件描述语言编写并在Quartus
II
ICC’93,Geneva,Switzerland,May 1993.
6.0环境
[3]张庆治,刘巧艳.基于FPGA的Turbo码译码器设计与实现 [J].北京电子科技学院学报,2004,12(4):47·51. [4]刘小同,万国春,陈岚.基于Max—Log—MAP算法的Turbo码的 硬件设计与实现[J].江西科技师范学院学报,2005,8(4):
8.16.
下完成了仿真、综合及下载。通过
在液晶上实时显 示实验过程中Turbo编译码器的工作参数及接收到
误码的信息帧的数目,使学生能够清楚地理解Tur-
bo编译码器各个环节的作用及整个实验的数据流 程。SOPC的实现技术使得学生可以很容易地修改 各模块的程序代码,从而实现对Turbo编译码算法 的研究和改进。 参考文献

天若有情天亦老,人学物理数学金融生物死得早

(References):
[5]刘东华.Turbo码原理与应用技术[M].北京:电子工业出版 社。2004. [6]袁东风,张海霞.宽带移动通信中的先进信道编码技术[M]. 北京:北京邮电大学出版社,2004. [7]潘松,黄继业.曾毓.SOPC技术实用教程[M].北京:清华大 学出版社,2005.
(上接第68页)
6 5 4 3 2

1 0 9 8 7 8 5 4 3 2

毫 鼍

i-layer thickness/nm
图2
Voc,Jsc。耶和呀随i层厚度的变化
1094—1098.
3结论
本文用AMPS一1D对P—i—n结构非晶硅太阳能 电池的.,一y特性进行模拟,研究了i层厚度对非
[2]R Martins,I Ferreira,V Silva,et a1.Engineering of a.si:H de-
vice
stability by
suitable
design of interface[J].solar
Energy
Mater&SolarCells,2002(73):39—49. [3]胡志华,廖显伯,曾湘波,等.纳米硅(nc—Si:H)/晶体硅 (c.Si)异质结太阳电池的数值模拟分析[J].物理学报, 2003,52(1):217·224. [4]胡志华,廖显伯,刁宏伟,等.非晶硅太阳电池光照J—V特性 的AMPS模拟[J].物理学报,2005,54(5):2302—2306. [5]刘瑶,姚若河.扩散P-n结内建电场的数值分析[J].广西物 理,2005,26(1):16-21. [6]刘恩科,朱秉升,罗晋生,等.半导体物理学[M].北京:国 防工业出版社,1994. [7]仓田衡.半导体器件的数值分析[M].北京:电子工业出版 社,1985.
晶硅太阳能电池特性参数的影响。从模拟结果看,
y&,氏,FF和叼的理论最大值处在i层厚度为50
~400
nm范围内,且对应于不同的i层厚度。为了
获得最优的电池性能,应综合考虑‰,k,FF
和叼的取值。 参考文
献(References):
[1]R Martins,I Ferreira,A Cabrita,et a1.Improvement of a-Si:H
device stability and performances by
proper
design
0f interfac

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[J].Journal
of
Non-Crystalline
Solids,2000(266):
万   方数据

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