材料现代分析方法试题5(参考答案)
时间:2025-03-09
时间:2025-03-09
材料现代分析方法试题10(参考答案)
一、基本概念题(共10题,每题5分)
1.“一束X射线照射一个原子列(一维晶体),只有镜面反射方向上才有可能产生衍射线”,此种说法是否正确?
答:不正确,因为一束X射线照射一个原子列上,原子列上每个原子受迫都会形成新的X射线源向四周发射与入射光波长一致的新的X射线,只要符合光的干涉三个条件(光程差是波长的整数倍),不同点光源间发出的X射线都可产生干涉和衍射。镜面反射,其光程差为零,是特殊情况。
2.什么叫干涉面?当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是多少?相邻两个(HKL)晶面的波程差是多少?
答:晶面间距为d’/n、干涉指数为nh、 nk、 nl的假想晶面称为干涉面。当波长为λ的X射线照射到晶体上发生衍射,相邻两个(hkl)晶面的波程差是nλ,相邻两个(HKL)晶面的波程差是λ。
3.谢乐公式B=kλ/tcosθ中的B、λ、t、θ分别表示什么? 该公式用于粒径大小测定时应注意哪些问题?
答:B为半高宽或峰的积分宽度,λ为入射X射线波长,t为粒径大小,θ为表示选用X射线位置
①这是运用X射线来测定晶粒大小的一个基本公式。B为衍射峰的宽,t表示晶粒的大小。可见当晶粒变小时,衍射峰产生宽化。一般当晶粒小于10-4cm 时,它的衍射峰就开始宽化。因此式适合于测定晶粒<10-5cm ,即100纳米以下晶粒的粒径。因此,它是目前测定纳米材料颗粒大小的主要方法。虽然精度不很高,但目前还没有其它好的方法测定纳米级粒子的大小。
②一般情况下我们的样品可能不是细小的粉末,但实际上理想的晶体是不存在的,即使是较大的晶体,它经常也具有镶嵌结构在,即是由一些大小约在10-4cm,取向稍有差别的镶嵌晶块组成。它们也会导到X射线衍射峰的宽化。
4.试述极图与反极图的区别?
答:极图是多晶体中某{hkl}晶面族的倒易矢量(或晶面法线)在空间分布的极射赤面投影图。它取一宏观坐标面为投影面,对板织构可取轧面,对丝织构取与丝轴平行或垂直的平面。图7-13是轧制纯铝{111}极图,投影面为轧面。在极图上用不同级别的等密