电力电子技术试验

时间：2026-01-17

有关常见电力电子器件的实验方法及指导,对于不满足于课本上的理论知识,想要获得更多的实践经验的人士而言再适合不过,是对于理论知识的补充和直观的解释,对于检验自己知识的掌握程度和进行深层次的研究是不可多得的工具。

实验一电力晶体管(GTR)驱动电路研究

一．实验目的

1．掌握GTR对基极驱动电路的要求

2．掌握一个实用驱动电路的工作原理与调试方法

二．实验内容

1．连接实验线路组成一个实用驱动电路 2．PWM波形发生器频率与占空比测试

3．光耦合器输入、输出延时时间与电流传输比测试 4．贝克箝位电路性能测试 5．过流保护电路性能测试

三．实验线路

见图5—1

四．实验设备和仪器

1．NMCL-22电力电子实验箱 2．双踪示波器 3．万用表

4．教学实验台主控制屏

五．实验方法

1．检查面板上所有开关是否均置于断开位置 2．PWM波形发生器频率与占空比测试

（1）开关S1、S2打向“通”，将脉冲占空比调节电位器RP顺时针旋到底，用示波器观察1和2点间的PWM波形，即可测量脉冲宽度、幅度与脉冲周期，并计算出频率f与占空比D，填入表5—1。

（2）将电位器RP左旋到底，测出f与D，填入表5—1。（3）将开关S2打向“断”，测出这时的f与D，填入表5—1。（4）电位器RP顺时针旋到底，测出这时的f与D，填入表5—1 （5）将S2打在“断”位置，然后调节RP，使占空比D=0.2左右。 3．光耦合器特性测试

（1）输入电阻为R1=1.6K 时的开门，关门延时时间测试

a．将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的“3”与“5”，“9”与“7”及“6”与“11”，即按照以下表格的

b．GTR单元的开关S1合向“ ”，用双踪示波器观察输入“1”与“6”及输出“7”与“11”之间波形，记录开门时间ton（含延迟时间td和下降时间tf）以及关门时间toff（含储存时间ts和上升时间tr），填入表5—2。

（2）输入电阻为R2=150 时的开门，关门延时时间测试

将GTR单元的“3”与“5”断开，并连接“4”与“5”，调节电位器RP顺时针旋到底（使RP短接），其余同上，记录开门、关门时间，填入表5—3。

（3）输入加速电容对开门、关门延时时间影响的测试

断开GTR单元的“4”和“5”，将“2”、“3”与“5”相连，即可测出具有加速电容时的开门、关门时间，填入表5—4。

4．驱动电路输入，输出延时时间测试

GTR单元的开关S1合向“”，将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM

波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的“3”与“5”，“9”与“7”

用双踪示波器观察GTR单元输入“1”与“6”及驱动电路输出“14”与“11”之间波形，记录驱动电路的输入，输出延时时间。

td=

5．贝克箝位电路性能测试

（1）不加贝克箝位电路时的GTR存贮时间测试。

GTR单元的开关S1合向“”，将GTR单元的输入“1”与“6”分别与PWM波形发生器的输出“1”与“2”相连，再分别连接GTR单元的”2“、“3”与“5”，“9”与“7”，“14”与“19”，“29”与“21”，以及GTR单元的“8”、“11”、“18”与用双踪示波器观察基极驱动信号ub（“19”与“18”之间）及集电极电流ic（“22”与“18”之间）波形，记录存贮时间ts。

ts=

（2）加上贝克箝位电路后的GTR存贮时间测试在上述条件下，将20与14相连，观察与记录ts的变化。 ts=

6．过流保护性能测试

在实验5接线的基础上接入过流保护电路，即断开“8”与“11”的连接，将“36”与“21”、“37”与“8”相连，开关S3放在“断”位置。

用示波器观察“19”与“18”及“21”与“18”之间波形，将S3合向“通”位置，(即减小比较器的比较电压，以此来模拟采样电阻R8两端电压的增大)，此时过流指示灯亮，并封锁驱动信号。

将S3放到断开位置，按复位按钮，过流指示灯灭，即可继续进行试验。

六．实验报告

1．画出PWM波形，列出PWM波形发生器S2在“通”与“断”位置时的频率f与最大，最小占空比。

2．画出光耦合器在不同输入电阻及带有加速电容时的输入、输出延时时间曲线，探讨能缩短开门、关门延时时间的方法。

3．列出光耦输入、输出电流，并画出电流传输比曲线。

4．列出有与没有贝 …… 此处隐藏：8734字，全部文档内容请下载后查看。喜欢就下载吧 ……

电力电子技术试验.doc 将本文的Word文档下载到电脑