固体矿产储量计算(15)

C0 C1 C2

式中，C0为矿体平均品位；C1，C2 为样品品位；n为样品个数。

3.2 特高品位样品的确定及其处理方法

特高品位指的是矿床中那些比一般品位高出许多倍的异常品位，一般在矿化很不均匀的部位出现。特高品位样品的概念不是固定的，因此，确定特高品位样品的标准或界限在不同的矿床或矿体，甚至同一矿体的不同勘查阶段是不同的。

3.2.1 确定特高品位下限有四种方法

(1)变化系数法：根据矿床类型及有用组分的变化系数确定下限值。以往多以矿床平均品位的2-15倍为下限值。

(2)根据样品品位频率曲线确定特高品位下限值。即根据样品品位段及其出现的频率，找出特高品位的拐点值，即为下限。

(3)应用统计分析函数查明特高品位下限值。首先制作样品品位频率曲线，运用数理统计的方法确定其分布类型，计算样品分布的有关参数，按分布类型定出特高品位样品下限。

(4)影响系数法：即根据特高品位使矿区(床、体)平均品位增高的百分数，即影响程度来确定的下限值，通常用如下公式表示为： 正常样品最高值：H C C(N 1)M

100

式中，C校正前的平均品位(或包括特高品位在内的平均品位)；N为参加计算的样品个数；M为特高品位使平均品位增高的百分数，即影响程度；

M C C1

C 100%

C1为剔除特高品位后所计算的平均品位；一般把M≥20％称为有用组分很不均匀的矿床；M=15-20％为有用组分不均匀矿床；M＜15％