有关超声波检验相关知识。

斜探头探伤时，由于超声波在入射到工件之前经过探头斜楔有机玻璃，因此荧光屏上发射波的“0”位，并不代表超声波开始入射到工件的起始时间。故通常需要进行零位校正，及确定探头入射点和折射角。才能较正确地计算出缺陷位置和尺寸。在实际生产中多采用“板边法”或“简易定位法”对缺陷定位。 简易定位不需校正零位， 其特点系将超声波在斜楔中的传播L0折算成横波在钢中的传播L1，L1=1.2L0.SINβ。入射角α在40-50度之间时L1=L0。探头入射点至探头前沿的距离为L2，将L0＋L 2的值做为一个常数，再调整仪器就可知道缺陷位置。 举例说明如下：

例如：探头尺寸L2＝18mm。L0＝12mm。入射角为450度 。

所以L1=L0=12mm，L2+L1=30mm。将深头前缘与一试块（厚4—6）的前端对齐。用“微调”旋纽将试块端面反射波调到荧光屏标尺“3”处，使反射波L2+L1 成 1：1的关系，则荧光屏每格代表水平距离10mm,检查工件时倘若缺陷波出现在“N”刻度处。则缺陷至探头前端水平距离为：（N-3）×10mm

实际探测时。除校正第“3”格处的反射波外，还应将探头后移20mm或30mm观察反射波是否在第“5”格或第“6”格处。如误差大则“水平”和“微调”旋钮校准。

缺陷的垂直距离可按下式由水平距离及折射角算出。折射角可由K值探头求得。K值实为探头折射角的正切函数。

X—探头前端至缺陷的水平距离。

缺陷大小一般是根据荧光屏上缺陷波的高度确定。常用的方法是用当量直径或当量面积来表示。当量直径或当量面积系指实际缺陷相当于试块人工缺陷的某一直径或面积而言。此法只运用于测定小于声（探头）截面积的缺陷。对条状缺陷的长度或大面积缺陷的确定，采用半波高度法。首先找出缺陷波最高时探头的位置。然后向各方向移动探头找出缺陷波为最高波的一半时探头中心所对应的2位位置。这个位置即为条状缺陷的端点，或大面积缺陷的缺陷边缘；探头中心所对应约二个位置即为条状缺陷的长度。探头中心移动的轨迹即为缺陷的面积．图4-5为半波高度法确定缺陷长度示意图。

图4-5 半波高度法示意图