AO2.910.260JS DCP数据处理卡技术说明(4)

数字二进制补码输入输出 模拟差分输入输出 串行接口

80dB的谐波和噪音抑制

模拟输出增益可编程为1，1/2, 1/4和0

采样率为MCLK/(Fk 256) , MCLK 主时钟，Fk可编程为1,2,3,...,256 比特时钟为MCLK/(Fsclk 2 ) , Fsclk可编程为1,2,3,...,256

六、 引 出 线 信 号 说 明

引 出 线 信 号 说 明： 6.1 X4： RS 422接口

1.PIN2 TXD+，发送数据 2.PIN3 RXD+，接收数据 3. PIN6 TXD ，第二发送数据 4. PIN7 RXD ，第二接收数据 5. PIN5，9 GND，信号地

6.2. X5：E1接口输出 6.3. X6：E1接口输入 6.4. X7：双声道音频信号输出 6.5. X8：双声道音频信号输入 6. 6 X14：GEC接口

1. PIN1 HVCLK_R，输入，比特时钟

2. PIN2 HLEN_R，输入，输入数据有效指示，低电平有效 3. PIN3 HVD_T，输出，发送数据

4. PIN4 HRDY_T，输入，接收设备准备好指示，高电平有效 5. PIN6 HRDY_R，输出，准备好接收数据指示，高电平有效 6. PIN7 HVD_R，输入，接收数据

8. PIN9 HVCLK_T，输入，比特时钟

七、 测 试 内 容

测 试 是 对 板 上 各 主 要 器 件 进 行 验 证，保 证 其 满 足 该 板 的 功 能 需 要。 TE2M板 测 试 有 以 下 内 容：

C50部分

7.1 RAM 自 检

操 作 地 址 为 8000H~FFFFH, 分 别 向 该 地 址 间 的 RAM 区 写 入 数 据 再 分 别 读 出 比 较，若 写 入 的 与 读 出 的 相 同，则 自 检 通 过。 写 入 的 数 据 为 当 前 地 址 的 高 字 节 与 低 字 节 的 异 或 值。

7.2 C50 端 双 口 RAM 的 测 试 操作方法参见7. 1 RAM自检。 7.3 8920的测试

首先初始化8985，使其HW2自环；C50连续向8920写一帧数据，稍延时后再读回 来比较，反复多次， TS0和TS16除外，若写入的与读出的相同，则测试通过。

7. 4 EPLD提取 H.221中FAW功能测试

在89790外环测试通过的前提下，测试本功能。初始化工作与7. 9中的 89790外环 测试相同，在RAM中初始化一子复帧数据，该子复帧数据中包含FAW，在每次8K中 断中发一物理帧，循环往复发该子复帧数据。当EPLD搜索到FAW时，HL3指示灯被点亮，反复多次，HL3都能被点亮，则测试通过。

7. 5 TMS320AD55测试

C50串行口被初始化为16BIT突发方式，AD55工作在上电复位状态，从X8输入 2KHz 1V左右的音频信号。C50把从DRR寄存器读到的数据直接向往DXX寄存器中， 这时用示波器观察X7输出波形，如果与X8输 入波形基本相同，则测试通过。

7. 6 GEC接口测试

将GEC接口测试插座插入X14，该插座的PIN2和PIN8，PIN3和PIN7，PIN4和PIN6 分

别短接；每8K中断向51H口先写后读30B不同的规律数，反复多次，若写入的与读出 的相同，则测试通 过。 PC机部分

7. 7 PC机 端 双 口 RAM 的 测 试 操作方法参见7. 1 RAM自检。 7. 8 8985测试

初始化8985HW7为消息模式。PC机向HW7发一帧消息，稍延时后读HW7，反复 多次，若写入的与读出的相同，则测试通 过。

7. 9 89790外环测试

先用外环线短接X5，X6；初始化8985，使其HW1接续HW2，HW2接续HW1，再 初始化89790，使其工作在外环方式；然后参见7. 3中 的8920的测试，TS0和TS16除外, 若从8920写入的与读出的相同，则测试通 过。

7. 10 RS_422口测试

将RS_422接口测试插座插入X4，该插座的PIN2和PIN3，PIN6和PIN7分别短接; 8251初始化方式字为7DH，控制字为15H；若8251收发数据相同，则测试通过。