GJB1032电子产品环境应力筛选方法

GJB1032 电子产品环境应力筛选方法

GJB

中华人民共和国国家军用标准

FL GJB 1032－90

电子产品环境应力筛选方法

environmental stress screening process for electronic products

1991－01－26发布 1991－06－01

国防科学技术工业委员会 批准

GJB1032 电子产品环境应力筛选方法

目 次

1 主题内容与适用范围 2 引用标准 3 术语 4 一般要求 5 环境应力筛选条件 6 筛选程序

附录A 环境应力筛选故障寻找方案（补充件） 附录B 温度循环保持时间的确定（补充件） 附录C 环境应力筛选试验时间的确定（参考件） 附录D 环境应力筛选试验的抽样和简化（参考件）

GJB1032 电子产品环境应力筛选方法

中华人民共和国国家军用标准 电子产品环境应力筛选方法

GJB 1032－90

environmental stress screening process for electronic products

1 主题内容与适用范围

本标准规定了军用电子产品环境应力筛选的要求、条件和方法。 本标准适用于下列各类电子产品，在研制和批生产阶段的环境应力筛: a. 地面固定设备； b. 地面移动设备； c. 舰船用设备； d. 飞机用设备及外挂； e. 导弹用设备。

筛选产品可以是印刷电路板组装件、电子组件或整机；对大型电子产品应优先考虑在较低装配级别如印刷电路板组装件上进行筛选。 2 引用标准

GB 2036 印制电路名词术语及定义

GB 5170 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 GB 8052 单水平和多水平连续计数抽样检查程序及表 GJB 150 军用设备环境试验方法

GJB 431 产品层次、产品互换性、样机及有关术语 GJB 450 装备研制与生产的可靠性通用大纲 GJB 451 可靠性、维修性术语 GJB 457 机载电子设备通用规范 3 术语

3.1环境应力筛选

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在电子产品施加随机振动及温度循环应力，以鉴别和剔除产品工艺和元件引起的早期故障的一种工序或方法。 3.2环境应力筛选故障

在环境应力筛选试验中由产品工艺缺陷或元件缺陷引起的故障。 3.3非环境应力筛选

由于非环境应力引起的故障，包括：

a. 产品安装不当引起的故障； b. 监视仪表失灵引起的故障； c. 操作错误引起的故障；

d. 试验程序错误或程序执行错误引起的故障； e. 过环境应力引起的故障； f. 从属故障；

g. 维修期间引起的故障。 3.4优势频率

在功率谱密度曲线上最大处对应的频率。 3.5瞬态故障

需在一定的环境应力作用下方能显示的故障。 4 一般要求

4.1环境应力筛选对象

研制阶段和批生产初期的全部产品均应进行环境应力筛选；在批生产中、后期可根据产品批量及质量稳定情况进行抽样筛选，抽样方案见附D。 4.2试验产品的要求

a.所有试验产品应具有检验合格证明；

b.所有试验产品应去除包装物及减震装置后再进行试验。 4.3试验的大气条件 4.3.1 标准大气条件： 温度：15～35℃；

相对湿度：不加控制的室内环境； 大气压力：试验场所的当地气压。

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4.3.2仲裁大气条件： 温度：23±2℃； 相对湿度：（50±5）%；

大气压力：86～106KPa。 4.4试验条件允差 4.4.1温度试验允差

除必要的支承点外，试验产品应完全被温度试验箱内空气包围。箱内温度梯度（靠近试验产品外测得）应小于1℃/m；箱内温度不得超过试验温度±2℃的范围，但总的最大值为2.2℃(试验产品不工作)。 4.4.2随机振动试验允差

振动试验控制点谱形允差见表1对功率谱计算其允差的分贝数（dB）按公式（1）计算：

dB 10lg

W

(1) W0

2

式中：W－为实测的加速度功率谱密度，g/Hz；

2

W0－为规定的加速度功率谱密度，g/Hz。

均方根加速度允差不大于1.5dB,其允差分贝数（dB）按分式（2）计算：

dB 20lg

GRMS

(2)

GRMS0

式中：GRMS－实测的均方根加速度，g； GRMS0－规定的均方根加速度，g。

表1

注：1）如有困难时，频率范围在500～1000 Hz的允差放宽到－6dB，但累计带宽应在100 Hz以内。 2）如有困难时允差放宽到－9 dB，但累计带宽应在300 Hz以内。

4.4.3试验时间允差

试验时间的允差为±1%。 4.5试验设备要求

4.5.1温度循环试验箱

试验箱应满足如下要求：

a) 试验产品在箱内安装应保证除必要的支点外，全部暴露在传热介质即空气中；

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b) 应具有足够的高低温工作范围，温度变化速率（平均值）不小于5℃/min； c) 试验箱热源的位置布置不应使辐射热直接到达试验产品；

d) 用于控制箱温的热电偶或其它型式的温度传感器应置于试验箱内部的循环气

流中，并要加以遮护以防辐射影响；

e) 高低温循环的气流应适当导引以使试验产品周围的温度场均匀；如果有多个试

验产品同时进行试验时，应试验产品之间及试验产品与试验箱壁之间有适当间隔，以便气流能在试验产品间和试验产品与箱壁间自由循环；

f) 箱内空气及致冷系统的冷却介质－空气的温度和湿度应加以控制，使其在试验

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