实验二 组合逻辑电路实验分析(1)

` 实验二 组合逻辑电路实验分析

一、实验目的

掌握组合逻辑电路得分析方法与测试方法

二、实验器材

1、THD-4型数字电路实验箱一台（双列直插式集成电路插座、+5V直流电

源、逻辑电平开关、LED发光二极管显示器） 2、集成芯片

74LS00（四2输入与非门） 3片、74LS86（四2输入异或门） 1片 三、实验原理

组合电路是最常见的逻辑电路，可以用一些常用的门电路来组合成具有其它功能的门电路。

组合电路的分析是根据所给的逻辑电路，写出其输入与输出之间的逻辑函数表达式或真值表，从而确定该电路的逻辑功能。

四、实验内容

1、分析，测试用与非门74LS00组成的半加器的逻辑功能 1）逻辑表达式：

S B A A B C

2）实验电路

4

AB

1 2

3

5 109

6 12

13 8

11

S

图一 用74LS00与非门组成的半加器电路图

3）实测半加器真值表

A B 0 0 0 1 1 0 1 1

S C

2、分析、测试用异或门74LS86和与非门74LS00组成的半加器逻辑电路 1）实验电路与实测真值表

A B 0 0 0 1 1 0 1 1

S C

AB

图二 用74LS86异或门和与非门组成的半加器电路

3、分析，测试用与非门74LS00组成的全加器的逻辑功能

1）逻辑表达式

Si iiCi 1 iBii 1 Aiii 1 AiBiCi 1 Ai Bi Ci 1Ci AiBi AiCi 1 BiCi 1

2）实验电路

图三 用74LS00与非门组成的全加器电路图

3）实验全加器真值表

Ai Bi Ci-1 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1

Si Ci

五、实验注意事项

1、接插集成芯片时，要认清定位标志，不得插反。

2、今天所使用集成芯片是双列直插式14引脚芯片，其7脚接地，14脚接

+5V，实验中电源极性绝对不允许接错。 3、所有的集成芯片都必须加电源驱动。

4、实验前请逐个检测芯片中各门电路是否正常工作，以确保用逻辑功能正

常的门电路来组成所要求的组合逻辑电路。

5、个别联接线有断点，用联接线连接电路之前，请进行检测。

六、实验预习

实验三 组合逻辑电路的设计与测试

预习：列出下列实验任务的设计过程，并根据的所给的标准器件画出实验电路。

1、设计一个四人无弃权表决电路（多数赞成则提案通过）本设计要求采用四2输入与非门（74LS20）实现。

2、设计一个保险箱的数字代码锁，该锁有规定的4位代码A、B、C、D的输入端和一个开锁钥匙孔信号E的输入端，锁的代码由实验者自编（例如1001）。当用钥匙开锁时（E=1），如果输入代码符合该锁设定的代码，保险箱被打开（Z1=1），如果不符，电路将发出报警信号（Z2=1）。要求用最少的与门（74LS00和74LS20）来实现，检测并记录实验结果。