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校正曲线法：实际工作中，特别是衍射仪测出的h(x)和g(x)经常是不对称的线形，这时可用校正曲线法获得β。 根据所用仪器的具体情况实测出标样线形g(x)，并对不同试样（估计它们的函数宽度不同）测出实测线形h(x)，用已述方法解出f(x)，从而获得β/B和β/b， 可以得到校正曲线。 根据所用仪器的标样线形g(x)，假设真实线形f(x)为高斯函数或柯西函数，作g(x)与f(x)取不同的a值时的卷积，求出h(x)获得β/B-β/b曲线 根据所用仪器和试样，假设g(x)和f(x)函数的归一化形式，得到线形宽度b和β。利用下式得到β/B和β/b。

如图为带索拉狭缝的衍射仪使用线焦时的校正曲线。低反射角的校正曲线要求试样线形f(x)为柯西型，这时曲线的半高宽与积分宽相差甚小。 5. 物理宽化效应

衍射线线形宽化的主要原因是仪器宽化和物理宽化，物理宽化又是由材料中的晶格畸变（亦称点阵畸变、显微畸变）和晶块细化（亦称亚晶细化、微晶宽化）等缺陷两类因素造起的。

如果物理宽化仅由晶格畸变或晶块细化一种因素造成的，则可从实测线形分离仪器宽化因素后得到的真实线形宽度β直接计算微观应力与晶块尺寸。

如果物理宽化同时包括晶格畸变或晶块细化两种因素，首先应从β中分离出晶格畴变加宽n和晶块细化加宽m，然后进行微观应力与晶块尺寸的计算。 （1）晶块细化引起的宽化 理想小晶体的散射强度 |G1|2函数图像的讨论 衍射线宽度与晶块尺寸的定量关系--谢乐公式 实例

（2）晶格畸变引起的宽化 倒易空间的描述 微观应力与衍射线宽化的计算 实例

（1） 晶块细化引起的宽化

现象：尺寸为10-7~10-5cm(1~100nm)的微晶，能引起可观察的衍射线的宽化。原因：干涉函数的每个主峰就是倒易空间的一个选择反射区。三维尺寸都很小的晶体对应的倒易阵点变为具有一定体积的倒易体元（选择反射区），选择反射区的中心是严格满足布拉格定律的倒易阵点。

反射球与选择反射区的