薄晶片分离方法及其装置

发布时间:2021-06-08

(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号

CN110660709A

(43)申请公布日 2020.01.07(21)申请号CN201910814597.6

(22)申请日2019.08.30

(71)申请人苏州均华精密机械有限公司

地址215101 江苏省苏州市吴中区木渎镇金桥开发区谢村路1号A2

(72)发明人石敦智;黄良印

(74)专利代理机构苏州创元专利商标事务所有限公司

代理人马明渡

(51)Int.CI

权利要求说明书说明书幅图

(54)发明名称

薄晶片分离方法及其装置

(57)摘要

一种薄晶片分离装置,其具有:一座体单

元;一负压单元,耦接座体单元;以及一刮刀单

元,设于座体单元的顶端;其中,刮刀单元相对

于座体单元升降,并且刮刀单元由座体单元的两

侧端朝向座体单元的中央往复运动。薄晶片分离

装置将贴附于膜体的薄晶片的两端予以撑高,再

将位于薄晶片底端的膜体予以去除,以此使得薄

晶片与膜体二者相互分离时,薄晶片能够保持其

完整性,进而避免薄晶片产生毁损或断裂。一种

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