5-模拟电子技术第五章场效应管及其放大电路

发布时间:2024-11-12

5.1 金属 氧化物 半导体 金属-氧化物 氧化物-半导体 (MOS)场效应管 )5.1.1 N沟道增强型 沟道增强型MOSFET 沟道增强型 5.1.2 N沟道耗尽型 沟道耗尽型MOSFET 沟道耗尽型 5.1.3 P沟道 沟道MOSFET 沟道 5.1.4 沟道长度调制效应 5.1.5 MOSFET的主要参数 的主要参数

场效应管的分类: 场效应管的分类:增强型 MOSFET (IGFET) 绝缘栅型 JFET 结型

N沟道 沟道 P沟道 沟道

FET 场效应管

耗尽型 N沟道 沟道 P沟道 沟道

N沟道 沟道 P沟道 沟道

(耗尽型) 耗尽型)

耗尽型:场效应管没有加偏置电压时, 耗尽型:场效应管没有加偏置电压时,就有导电沟道存在 增强型:场效应管没有加偏置电压时, 增强型:场效应管没有加偏置电压时,没有导电沟道

5.1.1 N沟道增强型 沟道增强型MOSFET 沟道增强型1. 结构(N沟道) 沟道) 沟道 通常 W > LL :沟道长度 W :沟道宽度 tox :绝缘层厚度

动画2-3 (动画 )

5.1.1 N沟道增强型 沟道增强型MOSFET 沟道增强型 1. 结构(N沟道) 结构( 沟道 沟道)

剖面图

符号

二、 工作原理①栅源电压VGS的控制作用 当VGS=0V时,因为漏源之间被两个背靠背的 PN 结隔离,因此,即使在D、S之间加上 电压, 在D、S间也不可能形成电流。

当 0<VGS<VT (开启电压)时,通过栅极和衬底间的电容作用,将栅极下方P型衬底表层 的空穴向下排斥,同时,使两个N区和衬底中的自由电子吸 向衬底表层,并与空穴复合而消失,结果在衬底表面形成一 薄层负离子的耗尽层。漏源间仍无载流子的通道。管子仍不 能导通,处于截止状态。

当VGS>VT时,衬底中的电子进 一步被吸至栅极下方的P型衬底表层, 使衬底表层中的自由电子数量大于 空穴数量,该薄层转换为N型半导 体,称此为反型层。形成N源区到N 漏区的N型沟道。

V

DS

ID

把开始形成反型层的VGS值称为该管的开启电压VT。这时,若 在漏源间加电压 VDS,就能产生漏极电流 I D,即管子开启。 VGS 值越大,沟道内自由电子越多,沟道电阻越小,在同样 VDS 电压 作用下, I D 越大。这样,就实现了输入电压 VGS 对输出电流 I D 的控制。

②漏源电压VDS对沟道导电能力的影响当VGS>VT且固定为某值的情况下,若给漏源间加 正电压VDS则源区的自由电子将沿着沟道漂移到漏区,形 成漏极电流ID,当ID从D → S流过沟道时,沿途会产生压 降,进而导致沿着沟道长度上栅极与沟道间的电压分布 不均匀。源极端电压最大,为VGS ,由此感生的沟道最深; 离开源极端,越向漏极端靠近,则栅—沟间的电压线性 — 下降,由它们感生的沟道越来越浅;直到漏极端, 栅漏间电压最小,其值为: VGD=VGS-VDS , 由此感生的沟道也最浅。可见

,在VDS 作用下导电沟道的深度是不均匀的, 沟道呈锥形分布。若VDS进一步增大, 直至VGD=VT,即VGS-VDS=VT或VDS=VGSVT 时,则漏端沟道消失,出现预夹断。

A

当VDS为0或 较小时,VGD> VT,此时VDS 基 本均匀降落在沟 道中,沟道呈斜 线分布。

当VDS增加到使 VGD=VT时,漏极处沟道 将缩减到刚刚开启的情 况,称为预夹断。源区 的自由电子在VDS电场力 的作用下,仍能沿着沟 道向漏端漂移,一旦到 达预夹断区的边界处, 就能被预夹断区内的电 场力扫至漏区,形成漏 极电流。

当VDS增加到使VGD<VT时,预 夹断点向源极端延伸成小的夹 断区。由于预夹断区呈现高阻, 而未夹断沟道部分为低阻,因 此,VDS增加的部分基本上降落 在该夹断区内,而沟道中的电 场力基本不变,漂移电流基本 不变,所以,从漏端沟道出现 预夹断点开始, ID基本不随VDS 增加而变化。

三、特性曲线及特性方程1. 输出特性

iD = f (vDS ) |vGS =常数vGD= vGS-vDS=VT

可变电阻区(resistive region) 可变电阻区

—— 饱和区

恒流区( 恒流区(constant current region)——放大区 ) 放大区 夹断区( 夹断区(cutoff rigion) ) ——截止区 截止区

①可变电阻区: 可变电阻区:2 iD = K n 2(vGS VT )vDS vDS

[

]

′ K n W µ nCox W Kn = = 2 L 2 L ②可变电阻区特性曲线原点附近: 可变电阻区特性曲线原点附近: Kn为电导常数,单位:mA/V2 为电导常数,单位: iD ≈ 2 K n (vGS VT )vDS µn :反型层中电子迁移率 Cox : 栅极 ( 与衬底间 ) 氧 栅极( 与衬底间) 化层单位面积电容

rdso

dvDS = diD

=vGS =常数

2 K n (vGS VT )2

1

③饱和区: 饱和区:

iD = K n (vGS VT )

2

vGS vGS =KV V 1 = I DO V 1 T T 2 n T

2

2 I DO = K nVT 是vGS=2VT时的 D 时的i

2、转移特性 、

iD = f (vGS ) |vDS =常数

① vGS < VT 时, iD = 0; ; 增大而增大。 ② vGS ≥ VT时, iD随vGS增大而增大。

3、转移特性与漏极特性间的关系 、①在漏极特性上,对应某一 DS,作一垂直线; 在漏极特性上 对应某一v 作一垂直线; 对应某一 作一垂直线 ②该垂线与各漏极特性相交得到一组交点; 该垂线与各漏极特性相交得到一组交点; 值可画出对应的转移特性。 ③由各交点所对应的vGS 和iD值可画出对应的转移特性。 由各交点所对应的

5.1.2一、结构与符号

N沟道耗尽型MOSFET N沟道耗尽型MOSFET 沟道耗尽型

P沟道 沟道 PNP

N沟道 沟道 NPN

二、工作原理预埋在绝缘层 中的正离子能 感应出负电荷 感应电荷增多

1.vGS=0 vDS >0 2. vGS>0 vDS >0 3.vGS<0 vDS >0 4.vGS<0, 且vGS=VP

感应出的负电荷在漏源间形成 导电沟道, 导电沟道

,形成漏极电流 漏源间形成 导电沟道变宽 漏源间形成 导电沟道变窄 导电沟道 消失 漏极电流 iD增大 漏极电流 iD减小 漏极电流 iD≈0

感应出的 负电荷减少 感应电荷 耗尽

N沟道耗尽型 沟道耗尽型MOSFET在正、负栅源电压下均能工作。 在正、 沟道耗尽型 在正 负栅源电压下均能工作。

三、特性曲线

(1. 输出特性 2. 转移特性 转移特性)

2 i D = K n 2 (v GS V P )v DS v DS

[

]

′ Kn W µ n C ox W Kn = = 2 L 2 L (v GS = 0 ) i D ≈ K nV P2 = I DSS iD v 1 GS = K nV VP 2 P

≈ I DSS

2

v 1 GS VP

2

5.1.3一、符号 二、特性曲线

P沟道MOSFET P沟道MOSFET 沟道vGS<VT

1、可变电阻区

2 iD = K p 2(vGS VT )vDS vDS

[

Kp =2、饱和区

µ nCox W 2 L

(vGS ≤ VT ,2

vDS ≥ vGS VT )2

]

vGS iD = K p (vGS VT ) = I DO V 1 T (vGS ≤ VT , vDS ≤ vGS VT )

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