ITU-T G.657 接入网用抗弯损失单模光纤光缆的特性

c）

跳线缆截止波长 λcj。

λc、λcc和λcj的测量值之间的关系与特定的光纤和光缆设计以及测试条件有关。虽然，一般地说λcc < λcj < λc，但却不容易建立一个通用的量化关系。最重要的是要保证在最小工作波长在接头之间最小光缆长度内传输是单模的。建议成缆的单模光纤的最大光缆截止波长λcc为1 260 nm，或者对典型的跳线建议最大跳线光缆截止波长为1 250 nm，或者对于最坏情况长度和弯曲建议最大光纤截止波长为1 250 nm，就可以实现这一点。

光缆截止波长λcc必须小于第7节规定的最大值。

5.6 微弯损耗

微弯损耗随波长、弯曲半径和在特定半径的卷筒上缠绕的圈数变化。微弯损耗不得超过第7节对特定波长、弯曲半径和卷绕圈数规定的最大值。

实际小半径暴露的光纤只是在相对短的长度上。因为弯曲半径和弯曲光纤长度的典型选择会随着光纤处理系统的设计和敷设的实际做法而改变，再也不能满足只规定一个弯曲半径的做法。尽管已经发布了对各种光纤类型建模的结果，还是不能获得描述损耗与弯曲半径的关系曲线的通用弯曲损耗模型。因为这个原因，在第7节的表中，建议的最大微弯损耗是按不同的弯曲半径规定的。

因为光弯曲损耗随波长增大，损耗按预计的最高波长（1 550或1 625 nm）规范就足够了。如果需要，客户和供货商能够就更低或更高的规范波长达成一致。 注 1 — 质量合格测试足以保证这个要求得到满足。

注 2 — 在选择实现的缠绕圈数不同于建议值的情况，假定在那个应用中出现的最大损耗与规定的缠绕圈数成正比。

注 3 — 在需要例行测试时，为了准确性和易于测量，可以使用偏移的环直径取代建议的测试。在这种情况下，若干次测试使用的环直径、缠绕圈数和最大允许的弯曲损耗应该选择得使之与建议的测试和允许的损耗相关。 注 4 — 通常，其他的光纤属性，如模场直径、色散系数和光纤截止波长所选择的值会影响微弯损耗。对微弯损耗进行最佳化一般都会涉及在这些光纤属性值之间进行的折衷。

注 5 — [IEC 60793-1-47]描述的心轴缠绕法（方法A）用表7-1和表7-2规定的弯曲半径和缠绕圈数代替原定值后能够用做微弯损耗的测量方法。

5.7 5.7.1

光纤的材料特性 光纤材料

应该指明光纤是哪种物质制造的。

注 — 在熔接不同物质制造的光纤时需要小心。暂时的结论指示在接续不同的高硅光纤时能获得合适的接头损耗和强度。

ITU-T G.657 建议书（12/2006） 3