实验时，当传热达到稳态时，θ1和θ2的值将稳定不变，这时可以认为发热体C通过试样圆盘上平面传入热量的传热速率与由散热铜盘P向周围环境散热的散热速率相等。因此可通过散热铜盘P在稳定温度θ2时的散热速率求出传热速率ΔQ/Δt，方法如下：当读得稳态时的θ1，θ2后，将试样B盘抽去，让发热体C底部的加热铜盘与散热铜盘直接接触，使盘P的温度上升到高于稳态时的温度值十多度。再将发热体C移开，让散热铜盘自然冷却，每隔一定时间读一下散热铜盘的温度示值，求出铜盘在稳定温度θ2附近的冷却速率，

Q t

mc

S

t

2

冷却速率就是散热盘在 2时的散热速率。式中m、c分别为散热铜盘的质量和比热。

将上式代入（2）式，则得

mc

t

2

h1

2

1 2 R

考虑到加热铜盘移离后，在散热铜盘散热时，其表面全部暴露在空气中冷却，即其

散热面积为2 R2 2 Rh，而实验中通过加热达到稳态传热时，散热铜盘的上表面（面积为 R2）是被试样覆盖着的，散热铜盘的散热面积为 R2 2 Rh。基于物体的冷却速率与它的散热面积成正比，故需对

Q t

t

作如下修正，即

2

S

mC R2 2 RhmC R 2h 2

t t2R 2h2 R 2 Rh

式中R、h分别为散热铜盘的半径和厚度。

因

代入(2)式得

Q

t

Q/ t，

S

mC

R 2hh1

2 （3） t2R 2h 1 2 R

二、用稳态法测量良导体的实现

1、样品选择

由原理可知，使导体上下表面行成温差是测量热导率的关键，但是良导的体的导热性能很好，要使上下表面出现温差并不是简单的事，并且良导体还存在散热很快的问题，或造成一定相当大的误差。但是从理论的角度推测，理论上，用