双棱镜干涉实验(3)

3）将光电探测器逐渐向较远端平移，调节激光器方位，使得光斑能够再次进入小孔，如此反复多次，直至光电探测器窗口与远端激光器均处在导轨等高位置上。

4）将光电探测器移至导轨最远端，在激光器附近依次安放透镜L1（f1= 60 mm）、双棱镜（双棱镜安装在可调滑块上），调整透镜、双棱镜的高度，使之与激光器发出的光束等高。

3. 调节双棱镜使之产生干涉条纹

用白屏替代光电探测器，调整双棱镜横向位置，调节透镜L1与双棱镜的间距，使之在白屏正中出现清晰、粗细合适的干涉条纹，干涉条纹数为5 - 7条，此时，将激光器、透镜L1、双棱镜、光电探测器所在的大行程一维调节架、固定在导轨上，保证其位置不再变化。

4. 测量干涉条纹的宽度

1）用光电探测器换下白屏，选择光电探测器上合适的狭缝光栏（如0.2mm的细缝），并与光功率计连接，将光功率计的量程选至可调档。调节大行程一维调节架，使得光电探测器横向移动，选择好的狭缝光栏对准干涉条纹的边缘处的某一亮纹，此时，光功率计接收的信号达到极大值，以此作为中央条纹。

2）此时大行程一维调节架上的位置读数 1，平移光电探测器，使狭缝扫描整个干涉条纹区，光功率计记录的每两次光强极大值所对应的横向移动距离，即为一个干涉条纹的间距，从起始位置开始记录 1，扫过n个干涉条纹的间距（尽可能扫到图样另一端边缘）记录此时的位置读数 2，总条纹数目n，有：

x 1 2

n

重复测量5次，取平均值。注意测量时消除大行程一维调节架的“空程差”。

5. 测量两虚光源之间的距离

1）将导轨上各滑块全部固定，保持其位置不变，并且稳定。

2）在双棱镜和光电探测器之间（靠近双棱镜处）放置透镜L2（f2=100 mm），调节L2，使之与系统共轴。

3）移动L2，在光电探测器表面得到清晰的放大的虚光源像（两个清晰的圆光斑），用光电探测器对两光斑进行测量，得到间距d ，重复测量5次，取平均值。

4）记录下此时光电探测器的位置P1（P1与光电探测器上光电池记录板之间的距